烹饪器具
    1.
    发明公开
    烹饪器具 审中-实审

    公开(公告)号:CN119914905A

    公开(公告)日:2025-05-02

    申请号:CN202311426890.8

    申请日:2023-10-31

    Abstract: 本发明提供了一种烹饪器具,其中,烹饪器具包括:底座,底座的顶部设有置物板,置物板用于放置食材;微波组件,设于底座,微波组件能够生成微波,微波组件具有多个翅片组,多个翅片组中的任一翅片组包括多个翅片,翅片用于将微波沿朝向置物板的方向辐射;热风组件,设于底座,热风组件能够生成热风,微波组件还具有热风组件安装槽,热风组件的至少一部分位于热风组件安装槽内,热风组件避让翅片,置物板的至少一部分能够通风,以将热风组件所生成的热风排出。

    测试设备和测试方法
    3.
    发明公开

    公开(公告)号:CN119224445A

    公开(公告)日:2024-12-31

    申请号:CN202310802304.9

    申请日:2023-06-30

    Abstract: 本发明公开了一种测试设备和测试方法,测试设备包括测试腔体、射频模块、天线和处理组件;测试腔体内设有测试腔,测试腔用于容置被测件;射频模块包括发射机、接收机、第一耦合器、第二耦合器和切换件,发射机用于输出射频信号,第一耦合器用于采集发射机输出的射频信号;天线用于将射频信号馈入测试腔内,及用于接收被测件辐射的电磁波;第二耦合器用于采集天线接收的被测件辐射的电磁波;处理组件连接发射机、接收机和切换件,处理组件用于控制切换件使接收机与第一耦合器连接或使接收机与第二耦合器连接。上述测试设备可以利用接收机来检测射频信号,对射频信号进行闭环控制。

    测试装置
    4.
    发明公开
    测试装置 审中-实审

    公开(公告)号:CN117517775A

    公开(公告)日:2024-02-06

    申请号:CN202210904014.0

    申请日:2022-07-29

    Abstract: 本发明公开了一种测试装置。测试装置包括:测试腔体,用于放置待测设备;天线,用于接收待测设备辐射的电磁波信号;和射频模块,射频模块包括:混频器,混频器连接天线,并用于利用本振信号将电磁波信号转换为第一中频信号;中频滤波器,连接混频器,中频滤波器用于消除第一中频信号中处于中频滤波器带宽外的杂散信号并输出第二中频信号;和数字信号处理单元,连接中频滤波器,数字信号处理单元用于接收第二中频信号,并通过至少两次对第二中频信号进行采样分析以消除第二中频信号中的杂散信号。上述测试装置中,通过中频滤波器滤和数字信号处理单元的处理,可以消除测试过程中的杂散信号,提高对待测设备辐射出的电磁波的频谱分析的准确性。

    测试设备和测试方法
    7.
    发明公开

    公开(公告)号:CN117517811A

    公开(公告)日:2024-02-06

    申请号:CN202210903152.7

    申请日:2022-07-29

    Abstract: 本发明公开了一种测试设备和测试方法。测试设备包括:测试腔体,用于放置待测设备;天线;辐射信号源,连接所述天线,用于通过所述天线向所述测试腔体内辐射电磁波;校准组件,所述校准组件包括阵列探头,所述阵列探头可移动地设置在所述测试腔体内,所述校准组件用于根据所述阵列探头在移动时所输出的电磁场场强信号,确定所述测试腔体内的均匀场强位置。上述测试设备,可通过阵列探头的移动来确定所述测试腔体内的均匀场强位置,提升了测试效率。

    测试装置和测试方法
    8.
    发明公开

    公开(公告)号:CN119232291A

    公开(公告)日:2024-12-31

    申请号:CN202310793677.4

    申请日:2023-06-29

    Abstract: 本发明公开一种测试装置和测试方法。测试装置包括测试腔体,测试腔体内设有测试腔,测试腔用于放置待测设备;天线;射频模块,射频模块包括信号发生器和信号放大器,信号放大器连接信号发生器和天线,信号发生器用于输出射频信号,信号放大器用于对射频信号进行放大,天线用于将放大后的射频信号馈入至测试腔内。其中,信号发生器选自超宽带信号发生器和多频段信号发生器的至少一个;信号放大器选自超宽带信号放大器和多频段信号放大器的至少一个;天线选自超宽带天线、多频段天线和单频段天线中的至少一个,在天线为单频段天线的情况下,测试装置包括多个单频段天线,每个单频段天线对应一个测试频段。上述测试装置可满足更多频段的测试需求。

    测试装置
    10.
    发明公开
    测试装置 审中-实审

    公开(公告)号:CN119232293A

    公开(公告)日:2024-12-31

    申请号:CN202310802327.X

    申请日:2023-06-30

    Abstract: 本发明公开了一种测试装置用于对被测件的电磁抗扰度进行测试,测试装置包括测试腔体、天线组件、射频模块、射频检测模块和控制器,测试腔体内设有测试腔,测试腔用于放置被测件,射频模块电连接天线组件,射频模块用于输出射频信号,天线组件用于将射频信号馈入至测试腔内,射频检测模块用于采集被测件所处位置的电磁信号并将电磁信号转换为电信号参数,控制器电连接射频检测模块,控制器用于记录电信号参数。上述测试装置中,射频检测模块采集被测件所处位置的电磁信号并将电磁信号转换为电信号参数,控制器记录被测件所处位置的电信号参数,进而可以准确地获得被测件所处位置的电磁信息,提升测试结果准确性。

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