公开(公告)号：CN106168654A

公开(公告)日：2016-11-30

申请号：CN201610005857.1

申请日：2016-01-06

Applicant: 常州市武进区半导体照明应用技术研究院

Inventor： 樊嘉杰 ,  张梦妮 ,  钱诚 ,  樊学军 ,  张国旗

IPC: G01R31/44

CPC classification number: G01R31/44

Abstract: 本发明公开了一种可在线收集LED电参数的可靠性测试装置，包括LED、梅花基板、压片、电路板和散热器，所述电路板上开设与梅花基板数量相对应的通孔，所述通孔的两侧设置裸露的铜模，铜模一端与线路连接，另一端通过固定在铜模上的压片连接LED正负两极，所述压片与铜模由螺丝固定，压片可以绕螺丝旋转，当旋转LED两端压片直至同时触碰正极与负极时，LED被导通，当旋转LED两端压片离开LED表面，可以更换LED梅花基板；所述散热器与电路板相连接。本发明基于可更换LED电路板设计，测量成本较低。本发明还可解决无法更改LED串并联问题，探索新的电路设计，测量LED各项参数，功能较丰富，灵活性好。

公开(公告)号：CN106525778A

公开(公告)日：2017-03-22

申请号：CN201510583040.8

申请日：2015-09-14

Applicant: 常州市武进区半导体照明应用技术研究院

Inventor： 樊嘉杰 ,  钱诚 ,  张梦妮 ,  柏常青 ,  张国旗

IPC: G01N21/64 ,  G01J3/28

Abstract: 本发明公开了一种荧光胶的性能测量装置和方法。其中，该荧光胶的性能测量装置包括：控温装置，设置有荧光胶，用于调节荧光胶的温度；积分球，与控温装置相连接，用于收集荧光胶受激发产生的光；光谱辐射计，与积分球相连接，用于测量积分球收集的光。本发明解决了现有技术中无法测量荧光胶的激发光谱性能随温度变化的规律的技术问题。

公开(公告)号：CN106525778B

公开(公告)日：2019-04-16

申请号：CN201510583040.8

申请日：2015-09-14

Applicant: 常州市武进区半导体照明应用技术研究院

Inventor： 樊嘉杰 ,  钱诚 ,  张梦妮 ,  柏常青 ,  张国旗

IPC: G01N21/64 ,  G01J3/28

Abstract: 本发明公开了一种荧光胶的性能测量装置和方法。其中，该荧光胶的性能测量装置包括：控温装置，设置有荧光胶，用于调节荧光胶的温度；积分球，与控温装置相连接，用于收集荧光胶受激发产生的光；光谱辐射计，与积分球相连接，用于测量积分球收集的光。本发明解决了现有技术中无法测量荧光胶的激发光谱性能随温度变化的规律的技术问题。