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公开(公告)号:CN103123334B
公开(公告)日:2016-11-23
申请号:CN201110370282.0
申请日:2011-11-20
Applicant: 常州先进制造技术研究所
Abstract: 本发明涉及一种高精度微小颗粒金属检测DDS电路,其包括电源、偏置放大电路、变压器、检测线圈和反馈电路,采用变压器耦合反馈振荡电路产生正弦波,将检测线圈中主边线圈与一电容串联所构成的LC振荡回路作为选频网络,并将DAC加在反馈回路中,精准的调节正弦波振幅的反馈强度,检测线圈还包括主边线圈与副边线圈,主边线圈不与电路连接,副边线圈绕制在主边线圈的外表面,其与电路连接;反馈电路是由单片机控制的DAC数字芯片输出端与两级相串联的运算放大器及外围电路连接后再与偏置放大电路中三极管的发射级相连接。本发明的高精度微小颗粒金属检测DDS电路抗干扰能力强,金属检测处于最佳灵敏区,检测精度高,稳定性好。
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公开(公告)号:CN103123334A
公开(公告)日:2013-05-29
申请号:CN201110370282.0
申请日:2011-11-20
Applicant: 常州先进制造技术研究所
Abstract: 本发明涉及一种高精度微小颗粒金属检测DDS电路,其包括电源、偏置放大电路、变压器、检测线圈和反馈电路,采用变压器耦合反馈振荡电路产生正弦波,将检测线圈中主边线圈与一电容串联所构成的LC振荡回路作为选频网络,并将DAC加在反馈回路中,精准的调节正弦波振幅的反馈强度,检测线圈还包括主边线圈与副边线圈,主边线圈不与电路连接,副边线圈绕制在主边线圈的外表面,其与电路连接;反馈电路是由单片机控制的DAC数字芯片输出端与两级相串联的运算放大器及外围电路连接后再与偏置放大电路中三极管的发射级相连接。本发明的高精度微小颗粒金属检测DDS电路抗干扰能力强,金属检测处于最佳灵敏区,检测精度高,稳定性好。
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公开(公告)号:CN202393739U
公开(公告)日:2012-08-22
申请号:CN201120461991.5
申请日:2011-11-20
Applicant: 常州先进制造技术研究所
Abstract: 本实用新型涉及一种高精度微小颗粒金属检测DDS电路,其包括电源、偏置放大电路、变压器、检测线圈和反馈电路,采用变压器耦合反馈振荡电路产生正弦波,将检测线圈中主边线圈与一电容串联所构成的LC振荡回路作为选频网络,并将DAC加在反馈回路中,精准的调节正弦波振幅的反馈强度,检测线圈还包括主边线圈与副边线圈,主边线圈不与电路连接,副边线圈绕制在主边线圈的外表面,其与电路连接;反馈电路是由单片机控制的DAC数字芯片输出端与两级相串联的运算放大器及外围电路连接后再与偏置放大电路中三极管的发射级相连接。本实用新型的高精度微小颗粒金属检测DDS电路抗干扰能力强,金属检测处于最佳灵敏区,检测精度高,稳定性好。
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