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公开(公告)号：CN113702184B
公开(公告)日：2024-08-20
申请号：CN202111087329.2
申请日：2021-09-16
Applicant: 常州先进制造技术研究所
Abstract: 本发明公开了一种零反向间隙的微粒强度测量仪器，包括底座，底座上设置有镜头支撑架、样品支撑架、传感器安装架，样品支撑架用于支撑样品，镜头支撑架上支撑有用于观察样品的显微装置，传感器安装架上滑动设置有传动器移动架，传感器移动架上安装有力传感器，力传感器上安装有施力部件，施力部件位于样品上方且用于对样品施加竖直方向上的力；传感器安装架上设有驱动传感器移动架竖向移动的驱动机构，传感器安装架上悬吊设置有弹性部件，弹性部件位于传感器移动架的上方，且弹性部件底部与传感器移动架顶部连接，通过弹性部件给传感器移动架提供弹性拉力。本发明相比现有技术具有以下优点：实现了对微粒强度的准确测量。
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公开(公告)号：CN113702184A
公开(公告)日：2021-11-26
申请号：CN202111087329.2
申请日：2021-09-16
Applicant: 常州先进制造技术研究所
Abstract: 本发明公开了一种零反向间隙的微粒强度测量仪器，包括底座，底座上设置有镜头支撑架、样品支撑架、传感器安装架，样品支撑架用于支撑样品，镜头支撑架上支撑有用于观察样品的显微装置，传感器安装架上滑动设置有传动器移动架，传感器移动架上安装有力传感器，力传感器上安装有施力部件，施力部件位于样品上方且用于对样品施加竖直方向上的力；传感器安装架上设有驱动传感器移动架竖向移动的驱动机构，传感器安装架上悬吊设置有弹性部件，弹性部件位于传感器移动架的上方，且弹性部件底部与传感器移动架顶部连接，通过弹性部件给传感器移动架提供弹性拉力。本发明相比现有技术具有以下优点：实现了对微粒强度的准确测量。
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公开(公告)号：CN215768001U
公开(公告)日：2022-02-08
申请号：CN202122254024.8
申请日：2021-09-16
Applicant: 常州先进制造技术研究所
Abstract: 本实用新型公开了一种零反向间隙的微粒强度测量仪器，包括底座，底座上设置有镜头支撑架、样品支撑架、传感器安装架，样品支撑架用于支撑样品，镜头支撑架上支撑有用于观察样品的显微装置，传感器安装架上滑动设置有传动器移动架，传感器移动架上安装有力传感器，力传感器上安装有施力部件，施力部件位于样品上方且用于对样品施加竖直方向上的力；传感器安装架上设有驱动传感器移动架竖向移动的驱动机构，传感器安装架上悬吊设置有弹性部件，弹性部件位于传感器移动架的上方，且弹性部件底部与传感器移动架顶部连接，通过弹性部件给传感器移动架提供弹性拉力。本实用新型相比现有技术具有以下优点：实现了对微粒强度的准确测量。
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