粒子分析装置及其异常判断方法和质控方法

    公开(公告)号:CN105466840A

    公开(公告)日:2016-04-06

    申请号:CN201510631184.6

    申请日:2015-09-29

    Abstract: 本发明提供一种能更加确切地判断染色步骤异常的异常判断方法、质量控制方法和粒子分析装置。分析部件60在设定为质量控制模式时让试样制备部件40混合含有荧光色素的试剂41、被荧光色素染色的第一质控粒子12a和不被荧光色素染色且发荧光的第二质控粒子12b,制备混合物,获取表示第一质控粒子12a所发出的荧光的检测结果的第一管理值和表示第二质控粒子12b所发出的荧光的检测结果的第二管理值,根据从第一管理值和第二管理值算出的值,至少判断试样制备部件40中的染色异常。

    粒子分析装置及其异常判断方法和质控方法

    公开(公告)号:CN105466840B

    公开(公告)日:2019-11-12

    申请号:CN201510631184.6

    申请日:2015-09-29

    Abstract: 本发明提供一种能更加确切地判断染色步骤异常的异常判断方法、质量控制方法和粒子分析装置。分析部件60在设定为质量控制模式时让试样制备部件40混合含有荧光色素的试剂41、被荧光色素染色的第一质控粒子12a和不被荧光色素染色且发荧光的第二质控粒子12b,制备混合物,获取表示第一质控粒子12a所发出的荧光的检测结果的第一管理值和表示第二质控粒子12b所发出的荧光的检测结果的第二管理值,根据从第一管理值和第二管理值算出的值,至少判断试样制备部件40中的染色异常。

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