公开(公告)号：CN105466840B

公开(公告)日：2019-11-12

申请号：CN201510631184.6

申请日：2015-09-29

Applicant: 希森美康株式会社

Inventor： 横山光士 ,  森崎博实

IPC: G01N15/14

Abstract: 本发明提供一种能更加确切地判断染色步骤异常的异常判断方法、质量控制方法和粒子分析装置。分析部件60在设定为质量控制模式时让试样制备部件40混合含有荧光色素的试剂41、被荧光色素染色的第一质控粒子12a和不被荧光色素染色且发荧光的第二质控粒子12b，制备混合物，获取表示第一质控粒子12a所发出的荧光的检测结果的第一管理值和表示第二质控粒子12b所发出的荧光的检测结果的第二管理值，根据从第一管理值和第二管理值算出的值，至少判断试样制备部件40中的染色异常。

公开(公告)号：CN105466840A

公开(公告)日：2016-04-06

申请号：CN201510631184.6

申请日：2015-09-29

Applicant: 希森美康株式会社

Inventor： 横山光士 ,  森崎博实

IPC: G01N15/14

Abstract: 本发明提供一种能更加确切地判断染色步骤异常的异常判断方法、质量控制方法和粒子分析装置。分析部件60在设定为质量控制模式时让试样制备部件40混合含有荧光色素的试剂41、被荧光色素染色的第一质控粒子12a和不被荧光色素染色且发荧光的第二质控粒子12b，制备混合物，获取表示第一质控粒子12a所发出的荧光的检测结果的第一管理值和表示第二质控粒子12b所发出的荧光的检测结果的第二管理值，根据从第一管理值和第二管理值算出的值，至少判断试样制备部件40中的染色异常。