一种全金刚石结构的压力传感器芯片及其制备方法

    公开(公告)号:CN117330215A

    公开(公告)日:2024-01-02

    申请号:CN202311417581.4

    申请日:2023-10-30

    Abstract: 本发明公开了一种全金刚石结构的压力传感器芯片及其制备方法,压力传感器芯片包括单晶金刚石基片,所述基片上表面刻蚀有4个凹槽,每个凹槽内均沉积有硼掺杂金刚石薄膜作为桥电阻,4个桥电阻通过金属电极联通形成惠斯通电桥结构,所述基片背面通过刻蚀形成应力杯。本发明从结构仿真设计、金刚石薄膜生长、电桥设计、电极生长、芯体封装全过程进行相关研制,并最终完成形成高稳定性、高灵敏度的金刚石压阻传感器制备。在全金刚石结构的条件下,可以克服硅基半导体的本征激发温度低,材料强度差的缺点,有利于提高器件的测量范围和应用范围。

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