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公开(公告)号：CN107817246B
公开(公告)日：2020-06-19
申请号：CN201710580487.9
申请日：2017-07-17
Applicant: 富士通株式会社
Abstract: 提供了存储图像处理程序的介质、图像处理方法及图像处理装置。所述图像处理方法包括：通过二值化使用成像装置捕获的图像来识别暗区；通过对暗区进行细线化来生成暗区的线图像；识别第一多对像素，所述第一多对像素被包括在形成所生成的线图像的像素组中，并且以预定阈值或更大的值彼此之间分离开；计算连接第一多对中的各个对的线的梯度的第一方差；识别第二多对像素，所述第二多对像素被包括在形成所生成的线图像的像素组中，并且以小于预定阈值的值彼此之间分离开；计算连接第二多对中的各个对的线的梯度的第二方差；以及基于第一方差和第二方差评估暗区。
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公开(公告)号：CN112444205B
公开(公告)日：2022-07-08
申请号：CN202010856494.9
申请日：2020-08-24
Applicant: 富士通株式会社
Abstract: 本发明提供检测设备和检测方法。一种检测设备，包括存储器和耦接至该存储器的处理器。该处理器被配置成：确定多个局部图像中的每个局部图像相对于广角图像的位置；从多个局部图像中提取局部图像对，所述局部图像对的图像捕获次序是连续的、不具有交叠部分并且所述局部图像对中的至少一个局部图像包括损伤部分的图像；检测局部图像外部的估计所述损伤部分延续至的区域作为图像捕获遗漏候选区域；在其他局部图像中均未包括该图像捕获遗漏候选区域的情况下，将该图像捕获遗漏候选区域确定为图像捕获遗漏区域；以及基于该位置，发出与图像捕获遗漏区域相对应的位置的通知。
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公开(公告)号：CN112444205A
公开(公告)日：2021-03-05
申请号：CN202010856494.9
申请日：2020-08-24
Applicant: 富士通株式会社
Abstract: 本发明提供检测设备和检测方法。一种检测设备，包括存储器和耦接至该存储器的处理器。该处理器被配置成：确定多个局部图像中的每个局部图像相对于广角图像的位置；从多个局部图像中提取局部图像对，所述局部图像对的图像捕获次序是连续的、不具有交叠部分并且所述局部图像对中的至少一个局部图像包括损伤部分的图像；检测局部图像外部的估计所述损伤部分延续至的区域作为图像捕获遗漏候选区域；在其他局部图像中均未包括该图像捕获遗漏候选区域的情况下，将该图像捕获遗漏候选区域确定为图像捕获遗漏区域；以及基于该位置，发出与图像捕获遗漏区域相对应的位置的通知。
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公开(公告)号：CN107817246A
公开(公告)日：2018-03-20
申请号：CN201710580487.9
申请日：2017-07-17
Applicant: 富士通株式会社
Abstract: 提供了存储图像处理程序的介质、图像处理方法及图像处理装置。所述图像处理方法包括：通过二值化使用成像装置捕获的图像来识别暗区；通过对暗区进行细线化来生成暗区的线图像；识别第一多对像素，所述第一多对像素被包括在形成所生成的线图像的像素组中，并且以预定阈值或更大的值彼此之间分离开；计算连接第一多对中的各个对的线的梯度的第一方差；识别第二多对像素，所述第二多对像素被包括在形成所生成的线图像的像素组中，并且以小于预定阈值的值彼此之间分离开；计算连接第二多对中的各个对的线的梯度的第二方差；以及基于第一方差和第二方差评估暗区。
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