公开(公告)号：CN108646170A

公开(公告)日：2018-10-12

申请号：CN201810459775.3

申请日：2018-05-15

Applicant: 安徽理工大学

Inventor： 徐辉 ,  鲁孝平 ,  孙侠 ,  李敬兆 ,  李丹青 ,  马瑞君 ,  荀锦锦

IPC: G01R31/28

Abstract: 本发明公开了一种基于双模冗余的抗软错误老化预测传感器，涉及集成电路技术领域，通过在POMS管M1输入复位信号PWD，对点X1、点X2、点Y1、点Y2进行充电，使得X1＝X2＝Y1＝Y2＝1；充电完成后，组合逻辑电路的输出信号Co进入延时电路的输出信号GB保护带时，进入检测部分，当组合逻辑电路未发生老化时，或非门输出低电平；当组合逻辑电路发生老化时，或非门输出高电平；当组合逻辑电路发生老化时注入软错误时仍能检测出组合逻辑电路发生老化，即或非门输出高电平。本发明优点在于：能够在组合逻辑电路发生老化时注入软错误还是组合逻辑电路未发生老化时注入软错误都能有效检测出正确的信号，并节省面积开销。

公开(公告)号：CN108646170B

公开(公告)日：2020-10-30

申请号：CN201810459775.3

申请日：2018-05-15

Applicant: 安徽理工大学

Inventor： 徐辉 ,  鲁孝平 ,  孙侠 ,  李敬兆 ,  李丹青 ,  马瑞君 ,  荀锦锦

IPC: G01R31/28

Abstract: 本发明公开了一种基于双模冗余的抗软错误老化预测传感器，涉及集成电路技术领域，通过在POMS管M1输入复位信号PWD，对点X1、点X2、点Y1、点Y2进行充电，使得X1＝X2＝Y1＝Y2＝1；充电完成后，组合逻辑电路的输出信号Co进入延时电路的输出信号GB保护带时，进入检测部分，当组合逻辑电路未发生老化时，或非门输出低电平；当组合逻辑电路发生老化时，或非门输出高电平；当组合逻辑电路发生老化时注入软错误时仍能检测出组合逻辑电路发生老化，即或非门输出高电平。本发明优点在于：能够在组合逻辑电路发生老化时注入软错误还是组合逻辑电路未发生老化时注入软错误都能有效检测出正确的信号，并节省面积开销。

公开(公告)号：CN206775418U

公开(公告)日：2017-12-19

申请号：CN201720647251.8

申请日：2017-06-05

Applicant: 安徽理工大学

Inventor： 荀锦锦 ,  鲁孝平

IPC: H02P5/68

Abstract: 本实用新型描述了一种大功率直流电机驱动电路，包括H桥电路、与非门逻辑电路、光耦隔离电路和电源电路四大模块；所述H桥电路能够安全有效的控制两个直流电机双向转动；所述与非门逻辑电路包括两个与非门逻辑芯片74HC00和一个与门逻辑芯片74HC08，用于控制P-MOS管和N-MOS管的导通或关闭；所述光耦隔离电路能够隔离控制电路和驱动电路，保护单片机控制部分，使其能够稳定的运行；所述电源电路将24v高压转换成18v、5v低压为其他电路供电。本实用新型大功率直流电机驱动电路可以同时控制两个直流电机工作，还能够调节两个直流电机的转速，支持大多数单片机直接驱动，功率高、性能稳定，适用于各种工业自动化控制场合。