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公开(公告)号:CN118248193B
公开(公告)日:2024-07-30
申请号:CN202410659565.4
申请日:2024-05-27
Applicant: 安徽大学
IPC: G11C11/419 , G11C7/10 , G11C7/24
Abstract: 本发明属于集成电路领域,具体涉及一种基于参考电路动态匹配的高可靠性存内计算电路、芯片。该电路包括基于SRAM单元构成的存算阵列以及各种外围电路。存算阵列中的各个SRAM单元采用具有双字线的SRAM单元;按奇数行和偶数行将存算阵列中的SRAM单元分为两类,一类全作为计算单元,另一类全作为量化单元。存算阵列中每列的两条位线连接在一个SA上。按列运算过程中,各计算单元的计算电压输出到一侧位线,量化阶段选择与计算行临界的量化行,参考电压输出到另一侧位线。该方案可以克服位线寄生因素的影响,进而提高电路的可靠性。此外,本发明还特别选择7T‑SRAM单元构成存算阵列,以克服电路读破坏的问题。
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公开(公告)号:CN118248193A
公开(公告)日:2024-06-25
申请号:CN202410659565.4
申请日:2024-05-27
Applicant: 安徽大学
IPC: G11C11/419 , G11C7/10 , G11C7/24
Abstract: 本发明属于集成电路领域,具体涉及一种基于参考电路动态匹配的高可靠性存内计算电路、芯片。该电路包括基于SRAM单元构成的存算阵列以及各种外围电路。存算阵列中的各个SRAM单元采用具有双字线的SRAM单元;按奇数行和偶数行将存算阵列中的SRAM单元分为两类,一类全作为计算单元,另一类全作为量化单元。存算阵列中每列的两条位线连接在一个SA上。按列运算过程中,各计算单元的计算电压输出到一侧位线,量化阶段选择与计算行临界的量化行,参考电压输出到另一侧位线。该方案可以克服位线寄生因素的影响,进而提高电路的可靠性。此外,本发明还特别选择7T‑SRAM单元构成存算阵列,以克服电路读破坏的问题。
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公开(公告)号:CN115810374A
公开(公告)日:2023-03-17
申请号:CN202211499158.9
申请日:2022-11-28
Applicant: 安徽大学
Abstract: 本发明涉及静态随机存储器技术领域,特别是涉及存储电路、具有BCAM寻址和逻辑运算功能的存内计算电路。该存储电路包括NMOS管N1~N5以及PMOS管P0~P1;其中,N1~N4和P0~P1构成6T‑SRAM单元,N5连接在6T‑SRAM单元任意一个存储节点对应的两个MOS管之间,且N5的栅极受控制信号线EN控制。本发明设计的存储电路和传统的6T‑SRAM相比,增加了一个晶体管,用于将读端口与存储节点隔离,进而改善了6T结构的读破坏问题。同时相较于传统的读写分离的8T‑SRAM,少了一个晶体管,在面积上占有更大优势。
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