公开(公告)号：CN117572288A

公开(公告)日：2024-02-20

申请号：CN202410050334.3

申请日：2024-01-15

Applicant: 安徽大学

Inventor： 曹文平 ,  罗盟 ,  谭琨 ,  李泽堃 ,  吉兵 ,  胡存刚

IPC: G01R31/52

Abstract: 本发明提供一种短路故障检测电路与检测方法，检测电路包括：差分信号采集单元，对栅极电阻上的电压信号进行差分采样；短路状态判断单元，其输入端与差分信号采集单元的输出端相连接，用于将检测信号与参考电压进行比较，超过设定阈值时输出故障信号；短路信号保持单元，其输入端与短路状态判断单元的输出端相连，用于对故障信号的保持并传输短路信号给短路处理单元；短路处理单元，其输入端与所述故障保持单元的输出端相连，用于故障信号的处理，判定短路工况。本发明解决了传统SiC MOSFET在高压端口采集故障信号导致的噪声干扰、信号失真以及绝缘耐压和安全等问题，具有检测速度快、精准度高、可靠性高的优点。

公开(公告)号：CN116990655B

公开(公告)日：2023-12-19

申请号：CN202311244635.1

申请日：2023-09-26

Applicant: 安徽大学

Inventor： 曹文平 ,  李泽堃 ,  谭琨 ,  吉兵 ,  罗盟

IPC: G01R31/26 ,  G01R31/52

Abstract: 本发明提供一种基于漏‑源电压变化率的晶体管短路检测电路和方法，包括：RC缓冲电路、峰值检测电路和短路判断电路；RC缓冲电路检测所述晶体管的漏‑源电压变化率后输出一与漏‑源电压变化率成正比的监测电压信号至峰值检测电路；峰值检测电路检测并输出监测电压信号至短路判断电路；短路判断电路将监测电压信号进行放大后与一参考电压进行对比，根据比较结果判断晶体管是否发生短路。本发明通过检测晶体管的漏‑源电压变化率来判断晶体管是否短路，无需外接多余的积分电路和高压二极管，也无需考虑多余的消隐时间，减少了短路检测的响应时

公开(公告)号：CN116990655A

公开(公告)日：2023-11-03

申请号：CN202311244635.1

申请日：2023-09-26

Applicant: 安徽大学

Inventor： 曹文平 ,  李泽堃 ,  谭琨 ,  吉兵 ,  罗盟

IPC: G01R31/26 ,  G01R31/52

Abstract: 本发明提供一种基于漏‑源电压变化率的晶体管短路检测电路和方法，包括：RC缓冲电路、峰值检测电路和短路判断电路；RC缓冲电路检测所述晶体管的漏‑源电压变化率后输出一与漏‑源电压变化率成正比的监测电压信号至峰值检测电路；峰值检测电路检测并输出监测电压信号至短路判断电路；短路判断电路将监测电压信号进行放大后与一参考电压进行对比，根据比较结果判断晶体管是否发生短路。本发明通过检测晶体管的漏‑源电压变化率来判断晶体管是否短路，无需外接多余的积分电路和高压二极管，也无需考虑多余的消隐时间，减少了短路检测的响应时间且电路结构简单，设计成本低。

公开(公告)号：CN117572288B

公开(公告)日：2024-04-16

申请号：CN202410050334.3

申请日：2024-01-15

Applicant: 安徽大学

Inventor： 曹文平 ,  罗盟 ,  谭琨 ,  李泽堃 ,  吉兵 ,  胡存刚

IPC: G01R31/52

Abstract: 本发明提供一种短路故障检测电路与检测方法，检测电路包括：差分信号采集单元，对栅极电阻上的电压信号进行差分采样；短路状态判断单元，其输入端与差分信号采集单元的输出端相连接，用于将检测信号与参考电压进行比较，超过设定阈值时输出故障信号；短路信号保持单元，其输入端与短路状态判断单元的输出端相连，用于对故障信号的保持并传输短路信号给短路处理单元；短路处理单元，其输入端与所述故障保持单元的输出端相连，用于故障信号的处理，判定短路工况。本发明解决了传统SiC MOSFET在高压端口采集故障信号导致的噪声干扰、信号失真以及绝缘耐压和安全等问题，具有检测速度快、精准度高、可靠性高的优点。