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公开(公告)号：CN118596158A
公开(公告)日：2024-09-06
申请号：CN202411065089.X
申请日：2024-08-05
Applicant: 季华实验室
Abstract: 本发明公开了一种技能学习方法、作业方法、技能学习装置及相关设备，涉及机器人技能学习领域，其中技能学习方法包括：得到第一位姿集；根据时序上位于缺失的位姿数据前后的位姿数据及对应的变化趋势对缺失的位姿数据进行补偿；并根据预设偏移量和第二位姿集获取机器人末端位姿集；根据机器人末端位姿集控制双臂装配作业机器人在机器人作业空间中复现人工作业过程以进行技能学习。本申请的技能学习方法能解决现有的装配作业机器人技能学习过程时间成本高的问题，从而能达到使人工作业过程的复现过程正常进行以及节省技能学习的时间成本的效果。
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公开(公告)号：CN115861146B
公开(公告)日：2023-06-02
申请号：CN202310177595.7
申请日：2023-02-28
Applicant: 季华实验室
Abstract: 本申请属于图像处理技术领域，公开了一种目标被遮挡的处理方法、装置、电子设备及存储介质，其方法包括：获取被遮挡接口的接口图片和参考图片，提取接口图片的光度图以及参考图片的参考光度图和参考色度图；根据接口图片的光度图获取光度梯度图，根据参考图片的参考光度图获取参考光度梯度图；基于模板匹配方法，把光度梯度图和参考光度梯度图融合得到融合光度梯度图；根据融合光度梯度图获取对应的融合光度图，根据模板匹配结果，对参考色度图进行融合处理以得到融合色度图；融合融合光度图和融合色度图以得到对应的RGB图，作为被遮挡接口的去除遮挡物的第一输出图像，即完成对被遮挡的接口图片的图像修复，以提高被遮挡接口的定位精准度。
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公开(公告)号：CN115861146A
公开(公告)日：2023-03-28
申请号：CN202310177595.7
申请日：2023-02-28
Applicant: 季华实验室
Abstract: 本申请属于图像处理技术领域，公开了一种目标被遮挡的处理方法、装置、电子设备及存储介质，其方法包括：获取被遮挡接口的接口图片和参考图片，提取接口图片的光度图以及参考图片的参考光度图和参考色度图；根据接口图片的光度图获取光度梯度图，根据参考图片的参考光度图获取参考光度梯度图；基于模板匹配方法，把光度梯度图和参考光度梯度图融合得到融合光度梯度图；根据融合光度梯度图获取对应的融合光度图，根据模板匹配结果，对参考色度图进行融合处理以得到融合色度图；融合融合光度图和融合色度图以得到对应的RGB图，作为被遮挡接口的去除遮挡物的第一输出图像，即完成对被遮挡的接口图片的图像修复，以提高被遮挡接口的定位精准度。
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公开(公告)号：CN115082560B
公开(公告)日：2022-11-18
申请号：CN202210864438.9
申请日：2022-07-22
Applicant: 季华实验室
IPC: G06T7/73 , G06T7/00 , G06V10/56 , G06V10/75 , G06V10/74 , B65G47/14 , B65G47/90 , B65G47/248 , B23P19/00
Abstract: 本申请属于物料运送技术领域，公开了一种物料位姿识别方法、装置、电子设备及上料系统，通过获取包含零件的原始图像；在原始图像中生成零件的最小外接矩形；根据最小外接矩形获取零件的位置数据和主方向夹角；提取最小外接矩形内的第一图像，以计算第一图像与第一模板图像的第一相似度，并计算第一图像与第二模板图像的第二相似度；根据主方向夹角、第一相似度和第二相似度确定零件的旋转角度；把位置数据和旋转角度映射到世界坐标系中，得到零件的位姿；从而对零件位姿识别效率高，有利于提高上料效率。
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公开(公告)号：CN115131553A
公开(公告)日：2022-09-30
申请号：CN202211051607.3
申请日：2022-08-30
Applicant: 季华实验室
Abstract: 本发明涉及图像处理领域，具体为一种遮挡孔定位方法、装置、电子设备及存储介质。该遮挡孔定位方法包括步骤：获取待识别图像；根据待识别图像获取所有识别孔的第一坐标；获取待识别图像中所有孔的孔数量；基于第一坐标，根据孔数量获取待识别图像中所有孔的孔排序；基于孔排序获取所有遮挡孔的第二坐标；根据第二坐标计算各遮挡孔的第三坐标；本发明能够准确确定工件上遮挡孔的位置，在被遮挡情况下实现识别定位。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN115131553B
公开(公告)日：2022-11-08
申请号：CN202211051607.3
申请日：2022-08-30
Applicant: 季华实验室
Abstract: 本发明涉及图像处理领域，具体为一种遮挡孔定位方法、装置、电子设备及存储介质。该遮挡孔定位方法包括步骤：获取待识别图像；根据待识别图像获取所有识别孔的第一坐标；获取待识别图像中所有孔的孔数量；基于第一坐标，根据孔数量获取待识别图像中所有孔的孔排序；基于孔排序获取所有遮挡孔的第二坐标；根据第二坐标计算各遮挡孔的第三坐标；本发明能够准确确定工件上遮挡孔的位置，在被遮挡情况下实现识别定位。
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公开(公告)号：CN118596158B
公开(公告)日：2024-10-11
申请号：CN202411065089.X
申请日：2024-08-05
Applicant: 季华实验室
Abstract: 本发明公开了一种技能学习方法、作业方法、技能学习装置及相关设备，涉及机器人技能学习领域，其中技能学习方法包括：得到第一位姿集；根据时序上位于缺失的位姿数据前后的位姿数据及对应的变化趋势对缺失的位姿数据进行补偿；并根据预设偏移量和第二位姿集获取机器人末端位姿集；根据机器人末端位姿集控制双臂装配作业机器人在机器人作业空间中复现人工作业过程以进行技能学习。本申请的技能学习方法能解决现有的装配作业机器人技能学习过程时间成本高的问题，从而能达到使人工作业过程的复现过程正常进行以及节省技能学习的时间成本的效果。
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公开(公告)号：CN118514843A
公开(公告)日：2024-08-20
申请号：CN202410971113.X
申请日：2024-07-19
Applicant: 季华实验室
Abstract: 本申请属于水下加工的技术领域，公开了一种水下加工装置及水下加工方法，该方法包括：获取待加工目标的加工任务信息，加工任务信息包括待加工目标的位置信息和待加工目标的多个待加工位置点及对应的加工要求信息；将水下加工装置移动到与位置信息对应的待机位置；根据待加工位置点和加工要求信息，以待机位置为起点，生成水下加工装置关于待加工目标的运行路径和水下加工装置在各待加工位置点所执行的工序内容；基于运行路径和工序内容，控制水下加工装置进行加工，得到水下加工结果。通过水下加工装置，根据由多个待加工位置点及对应的加工要求信息生成的运行路径和工序内容，在水下环境对待加工目标进行加工，提高了水下环境的加工效率。
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公开(公告)号：CN118514843B
公开(公告)日：2024-11-12
申请号：CN202410971113.X
申请日：2024-07-19
Applicant: 季华实验室
Abstract: 本申请属于水下加工的技术领域，公开了一种水下加工装置及水下加工方法，该方法包括：获取待加工目标的加工任务信息，加工任务信息包括待加工目标的位置信息和待加工目标的多个待加工位置点及对应的加工要求信息；将水下加工装置移动到与位置信息对应的待机位置；根据待加工位置点和加工要求信息，以待机位置为起点，生成水下加工装置关于待加工目标的运行路径和水下加工装置在各待加工位置点所执行的工序内容；基于运行路径和工序内容，控制水下加工装置进行加工，得到水下加工结果。通过水下加工装置，根据由多个待加工位置点及对应的加工要求信息生成的运行路径和工序内容，在水下环境对待加工目标进行加工，提高了水下环境的加工效率。
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公开(公告)号：CN115082560A
公开(公告)日：2022-09-20
申请号：CN202210864438.9
申请日：2022-07-22
Applicant: 季华实验室
IPC: G06T7/73 , G06T7/00 , G06V10/56 , G06V10/75 , G06V10/74 , B65G47/14 , B65G47/90 , B65G47/248 , B23P19/00
Abstract: 本申请属于物料运送技术领域，公开了一种物料位姿识别方法、装置、电子设备及上料系统，通过获取包含零件的原始图像；在原始图像中生成零件的最小外接矩形；根据最小外接矩形获取零件的位置数据和主方向夹角；提取最小外接矩形内的第一图像，以计算第一图像与第一模板图像的第一相似度，并计算第一图像与第二模板图像的第二相似度；根据主方向夹角、第一相似度和第二相似度确定零件的旋转角度；把位置数据和旋转角度映射到世界坐标系中，得到零件的位姿；从而对零件位姿识别效率高，有利于提高上料效率。
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