公开(公告)号：CN102494708B

公开(公告)日：2014-06-25

申请号：CN201110331154.5

申请日：2011-10-27

Applicant: 威凯检测技术有限公司

Inventor： 钟志刚 ,  朱珈 ,  刘宗航 ,  王秀芳 ,  竹利平 ,  王珊珊 ,  陈钧 ,  陈伟升 ,  刘国荣

IPC: G01D18/00

Abstract: 本发明公开了一种电工电子产品低温试验能力验证的方法及其装置，所述方法包括如下步骤：1)预设温度检测装置的动作温度点，要求温度检测装置的感温介质温度变化速率≤1℃/min，将温度检测装置的温度感应装置放入待验证装置内部，开启待验证装置操作降温；2）当温度检测装置检测到待验证装置的内部温度下降到上述预设的动作温度点时，记录待验证装置此时的内部温度值，即记录待验证装置温度值；3）计算上述待验证装置温度的Z值，，当时，判断待验证装置低温试验能力合格。本发明提供一种低温试验能力验证的方法，实现了对低温试验进行能力验证的技术上的突破，丰富了实验室的质量控制手段，提高了实验室能力和水平。

公开(公告)号：CN102494708A

公开(公告)日：2012-06-13

申请号：CN201110331154.5

申请日：2011-10-27

Applicant: 广州威凯检测技术有限公司

Inventor： 钟志刚 ,  朱珈 ,  刘宗航 ,  王秀芳 ,  竹利平 ,  王珊珊 ,  陈钧 ,  陈伟升 ,  刘国荣

IPC: G01D18/00

Abstract: 本发明公开了一种电工电子产品低温试验能力验证的方法及其装置，所述方法包括如下步骤：1)预设温度检测装置的动作温度点，要求温度检测装置的感温介质温度变化速率≤1℃/min，将温度检测装置的温度感应装置放入待验证装置内部，开启待验证装置操作降温；2）当温度检测装置检测到待验证装置的内部温度下降到上述预设的动作温度点时，记录待验证装置此时的内部温度值，即记录待验证装置温度值；3）计算上述待验证装置温度的Z值，，当时，判断待验证装置低温试验能力合格。本发明提供一种低温试验能力验证的方法，实现了对低温试验进行能力验证的技术上的突破，丰富了实验室的质量控制手段，提高了实验室能力和水平。