公开(公告)号：CN102494708A

公开(公告)日：2012-06-13

申请号：CN201110331154.5

申请日：2011-10-27

Applicant: 广州威凯检测技术有限公司

Inventor： 钟志刚 ,  朱珈 ,  刘宗航 ,  王秀芳 ,  竹利平 ,  王珊珊 ,  陈钧 ,  陈伟升 ,  刘国荣

IPC: G01D18/00

Abstract: 本发明公开了一种电工电子产品低温试验能力验证的方法及其装置，所述方法包括如下步骤：1)预设温度检测装置的动作温度点，要求温度检测装置的感温介质温度变化速率≤1℃/min，将温度检测装置的温度感应装置放入待验证装置内部，开启待验证装置操作降温；2）当温度检测装置检测到待验证装置的内部温度下降到上述预设的动作温度点时，记录待验证装置此时的内部温度值，即记录待验证装置温度值；3）计算上述待验证装置温度的Z值，，当时，判断待验证装置低温试验能力合格。本发明提供一种低温试验能力验证的方法，实现了对低温试验进行能力验证的技术上的突破，丰富了实验室的质量控制手段，提高了实验室能力和水平。

公开(公告)号：CN202350821U

公开(公告)日：2012-07-25

申请号：CN201120417156.1

申请日：2011-10-27

Applicant: 广州威凯检测技术有限公司

Inventor： 竹利平 ,  朱珈 ,  刘宗航 ,  钟志刚 ,  王珊珊 ,  陈钧 ,  陈伟升 ,  刘国荣

IPC: G01D18/00

Abstract: 本实用新型公开了一种电工电子产品低温试验能力验证装置，它包括具有固定的动作温度点的压力式温控器，所述的温控器上连接有温度感应装置，所述的温控器的负电压输入端依次通过电阻、氖灯连接外部负电压输入端，所述的温控器的正电压输入端连接外部正电压输入端。本实用新型采用具有固定的动作温度点的定温复位压力式温控器，感温介质温度变化速率≤1℃/min，满足低温试验能力验证实验的要求，且结构简单，使用寿命长，成本低、体积小、运输方便，非常适合能力验证活动，具有很高的推广和应用价值。