一种滚磨光整加工异形介质离散元接触参数的标定方法

    公开(公告)号:CN118194681A

    公开(公告)日:2024-06-14

    申请号:CN202410605904.0

    申请日:2024-05-16

    Abstract: 本发明属于表面光整加工技术领域,旨在解决现有方法无法适用于不规则颗粒介质的接触参数测试的问题。提供了一种滚磨光整加工异形介质离散元接触参数的标定方法,包括以下步骤:对异形颗粒介质的三维形态特征参数进行测定,基于多维法对不同特征参数的异形颗粒介质进行分类,筛选异形颗粒介质二维轮廓并构建异形颗粒介质仿真模型库;测得参数#imgabs0#、#imgabs1#、#imgabs2#、#imgabs3#和休止角实验值#imgabs4#;基于休止角实验值#imgabs5#和异形颗粒介质堆积密度,确定参数#imgabs6#、#imgabs7#的取值范围;基于构建的异形颗粒介质仿真模型,采用二因素五水平旋转正交组合仿真模拟试验,得到休止角仿真值#imgabs8#;建立二阶回归方程模型,确定参数#imgabs9#和#imgabs10#的最优参数组合。本发明可用于标定出异形颗粒介质的接触参数。

    一种滚磨光整加工异形介质离散元接触参数的标定方法

    公开(公告)号:CN118194681B

    公开(公告)日:2024-07-12

    申请号:CN202410605904.0

    申请日:2024-05-16

    Abstract: 本发明属于表面光整加工技术领域,旨在解决现有方法无法适用于不规则颗粒介质的接触参数测试的问题。提供了一种滚磨光整加工异形介质离散元接触参数的标定方法,包括以下步骤:对异形颗粒介质的三维形态特征参数进行测定,基于多维法对不同特征参数的异形颗粒介质进行分类,筛选异形颗粒介质二维轮廓并构建异形颗粒介质仿真模型库;测得参数#imgabs0#、#imgabs1#、#imgabs2#、#imgabs3#和休止角实验值#imgabs4#;基于休止角实验值#imgabs5#和异形颗粒介质堆积密度,确定参数#imgabs6#、#imgabs7#的取值范围;基于构建的异形颗粒介质仿真模型,采用二因素五水平旋转正交组合仿真模拟试验,得到休止角仿真值#imgabs8#;建立二阶回归方程模型,确定参数#imgabs9#和#imgabs10#的最优参数组合。本发明可用于标定出异形颗粒介质的接触参数。

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