公开(公告)号：CN104102173A

公开(公告)日：2014-10-15

申请号：CN201410147553.X

申请日：2014-04-14

Applicant: 大隈株式会社

Inventor： 国光克则 ,  杉江正行

IPC: G05B19/401

CPC classification number: G05B19/4097 ,  G05B19/19 ,  G05B19/401 ,  G05B2219/49007 ,  G05B2219/50015

Abstract: 数控装置，其配备有：三维模型存储器，其存储有工件和夹具中至少一个的三维模型；三维测量装置，其整体地测量固定到机床上的所述工件和所述夹具的形状；以及形状处理器，其基于三维测量单元测得的测量数据产生整体测量模型，其中，所述工件和所述夹具是整体识别的，并基于整体生成的测量模型和所述工件或夹具的三维模型，对于所述工件和所述夹具中的至少一个，进一步单独测量模型，其中所述工件或所述夹具是单独测量的。

公开(公告)号：CN104102173B

公开(公告)日：2018-02-27

申请号：CN201410147553.X

申请日：2014-04-14

Applicant: 大隈株式会社

Inventor： 国光克则 ,  杉江正行

IPC: G05B19/401

CPC classification number: G05B19/4097 ,  G05B19/19 ,  G05B19/401 ,  G05B2219/49007 ,  G05B2219/50015

Abstract: 数控装置，其配备有：三维模型存储器，其存储有工件和夹具中至少一个的三维模型；三维测量装置，其整体地测量固定到机床上的所述工件和所述夹具的形状；以及形状处理器，其基于三维测量单元测得的测量数据产生整体测量模型，其中，所述工件和所述夹具是整体识别的，并基于整体生成的测量模型和所述工件或夹具的三维模型，对于所述工件和所述夹具中的至少一个，进一步单独测量模型，其中所述工件或所述夹具是单独测量的。