公开(公告)号：CN116908272A

公开(公告)日：2023-10-20

申请号：CN202310352731.1

申请日：2023-04-04

Applicant: 大塚电子株式会社

Inventor： 长泽广也 ,  笹一志 ,  滨尾保 ,  村上典彦

IPC: G01N27/447

Abstract: 本公开提供一种能以简便的作业实施试样的更换或镀敷处理的Zeta电位测定用夹具组。本公开为具有框体和固定于框体的测定用夹具的Zeta电位测定用夹具组。框体具有：第一和第二保持壁，对置配置；底壁，连结第一和第二保持壁的下端，具有阳极板和阴极板；以及臂状的第一锁定部。测定用夹具具有：下段块，在底部具有阳极板和阴极板所在的阳极孔部和阴极孔部，配置于底壁上；盒，具有供试样配置的凹部和盒连通孔，配置于下段块上；中段块，在俯视时具有包围凹部的框状的形状，配置于盒上；上部构件，配置于中段块上，并且封闭凹部的上表面；以及第二锁定部，将上部构件向底壁侧按压。第一锁定部将中段块向底壁侧按压，使框体、下段块、盒、中段块一体化。

公开(公告)号：CN116026870A

公开(公告)日：2023-04-28

申请号：CN202211310530.7

申请日：2022-10-25

Applicant: 大塚电子株式会社 ,  国立大学法人京都大学

Inventor： 福谷义树 ,  牟田口绫夏 ,  长泽广也 ,  村上典彦 ,  西田幸次 ,  古谷勉 ,  小岛广之 ,  古贺毅

IPC: G01N23/201

Abstract: 本发明提供一种光学测定系统。光学测定系统包括：光源，其产生光束；起偏器，其配置在光源与试样之间，用于对光束的偏振方向进行限制；检测器，其观测光束照射到试样而产生的散射光；以及检偏器，其配置在试样与检测器之间。检偏器对入射到检偏器的包含检偏器与光束的光轴交叉的交叉位置在内的光轴中心区域的光施加比入射到检偏器的除光轴中心区域以外的区域的光大的衰减。