一种用于器件光学和电学测量以及真空监测的集成设备

    公开(公告)号:CN104931825A

    公开(公告)日:2015-09-23

    申请号:CN201510323769.1

    申请日:2015-06-13

    Applicant: 复旦大学

    Abstract: 本发明属于真空光学、电学测量技术领域。具体为一种用于器件光学和电学测量以及真空监测的集成设备。本发明集成设备的主体为一气闭壳体,在壳体上安装气体止回阀、电学测试探针、透明窗和负压表等。本发明可以实现以下功能:借助手套箱的过渡仓或真空泵对器件进行有效地真空储存;持在真空环境下的器件可以轻便运输;同时安装在壳体上的电学测试探针和透明窗允许对内部储存的器件进行真空光学和电学测试;通过负压表可以实时监测壳体内部的气压状况。

    超快瞬态电学响应信号的双探头低噪声测试方法

    公开(公告)号:CN104535860B

    公开(公告)日:2017-07-28

    申请号:CN201410801913.3

    申请日:2014-12-22

    Applicant: 复旦大学

    Inventor: 陈小青 侯晓远

    Abstract: 本发明属于电学测量技术领域,具体为一种超快瞬态电学响应信号的双探头低噪声测试方法。本发明使用两个相同型号的电压测试探头分别测量待测器件的两个电极;每个电压探头与待测器件的两个电极通过固定装置固定相对位置;从而精确测得器件对脉冲激励信号的快速电流或电压响应。传统的单探头测量方法中若使用更灵敏的(高带宽、采样率)示波器和探头,则会引入高频噪声信号,从而严重影响测量结果的质量。本发明的方法则可以避免这一问题,因而允许以更高的带宽和采样率测量器件的电流或电压响应。

    超快瞬态电学响应信号的双探头低噪声测试方法

    公开(公告)号:CN104535860A

    公开(公告)日:2015-04-22

    申请号:CN201410801913.3

    申请日:2014-12-22

    Applicant: 复旦大学

    Inventor: 陈小青 侯晓远

    Abstract: 本发明属于电学测量技术领域,具体为一种超快瞬态电学响应信号的双探头低噪声测试方法。本发明使用两个相同型号的电压测试探头分别测量待测器件的两个电极;每个电压探头与待测器件的两个电极通过固定装置固定相对位置;从而精确测得器件对脉冲激励信号的快速电流或电压响应。传统的单探头测量方法中若使用更灵敏的(高带宽、采样率)示波器和探头,则会引入高频噪声信号,从而严重影响测量结果的质量。本发明的方法则可以避免这一问题,因而允许以更高的带宽和采样率测量器件的电流或电压响应。

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