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公开(公告)号：CN113362399A
公开(公告)日：2021-09-07
申请号：CN202110752293.9
申请日：2021-07-02
Applicant: 复旦大学
IPC: G06T7/80
Abstract: 本发明公开了一种偏折测量系统中对焦镜和屏幕位姿的标定方法，属于偏折测量技术领域，该方法使用内参已知的相机，采用带有标志圆斑的平面反射镜、待标定的对焦镜和屏幕组成成像光路。首先基于视觉成像确定平面镜的位姿，并拍摄经过平面镜和对焦镜反射的屏幕的一张像，仅需一张图像即可实现对焦镜以及屏幕位姿的同时标定。本发明能够实现过渡成像偏折测量光路的快速几何标定，避免了繁杂的操作步骤，提高了复杂曲面偏折测量的效率与可靠性。
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公开(公告)号：CN113686546B
公开(公告)日：2022-07-12
申请号：CN202010424675.4
申请日：2020-05-19
Applicant: 复旦大学
Abstract: 本发明涉及光学工程领域，具体涉及一种离轴成像系统点扩散函数的测量方法与建模方法。本测量方法采用屏幕作为标准物显示圆斑特征，根据相机所获取斑点光强的梯度判断中心区域的轮廓线，将轮廓线之外的光强梯度向中心收缩得到点扩散函数弥散斑，本建模采用斜正态分布函数进行拟合，然后将函数表达式的每个参数拟合为斑点中心像素坐标的连续函数，由此实现离轴成像系统非对称点扩散函数的解析建模。本发明的测量方法和建模方法可以较好地克服传统双高斯函数无法准确描述离轴成像的局限性，提高对复杂的非对称点扩散函数的建模可靠性。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN112255758B
公开(公告)日：2022-07-12
申请号：CN202011196294.1
申请日：2020-10-30
Applicant: 复旦大学
Abstract: 本发明公开了一种偏折测量中实现屏幕和工件同时对焦的装置和方法，属于精密制造领域，其中装置包括相机、屏幕、被测工件和对焦镜，对焦镜为凹面反射镜，对焦镜用于将屏幕成像在被测工件处，相机、被测工件、对焦镜和屏幕的位置适于使屏幕经过对焦镜反射在被测工件上的第二像能够再次经过被测工件反射出第一像，且第一像与被测工件重合以便于相机同时对屏幕和被测工件对焦。本发明结构简单且使用方便，能够克服偏折测量的角度‑位置不确定度难题、克服屏幕离焦造成的相位解析误差，从而显著提高相位测量偏折术对复杂光学曲面的测量精度。
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公开(公告)号：CN110986829A
公开(公告)日：2020-04-10
申请号：CN201911332452.9
申请日：2019-12-22
Applicant: 复旦大学
IPC: G01B11/25
Abstract: 本发明属于光学镜面测量技术领域，具体为一种采用补偿镜的大曲率复杂镜面高精度测量方法。本发明采用补偿镜实现零位偏折测量，具体是在检测光路中加入与大曲率复杂镜面曲率相反的参考补偿镜，将被测面形的绝对高度测量转化为相对于球面面形偏差的相对测量；具体步骤包括：将待测大曲率镜面拟合为球面，在光路中引入与拟合球面曲率符号相反的补偿反射镜，消除由于被测的完全镜面引起的光焦度，从而将传统偏折测量中的平面基准转化为球面基准，也即直接测量复杂镜面相对于球面的面形偏差，有效减小纵向量程和法向摆动范围，提高测量精度，提升对大曲率凸面与凹面光学镜面的测量能力。
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公开(公告)号：CN113362399B
公开(公告)日：2022-08-30
申请号：CN202110752293.9
申请日：2021-07-02
Applicant: 复旦大学
IPC: G06T7/80
Abstract: 本发明公开了一种偏折测量系统中对焦镜和屏幕位姿的标定方法，属于偏折测量技术领域，该方法使用内参已知的相机，采用带有标志圆斑的平面反射镜、待标定的对焦镜和屏幕组成成像光路。首先基于视觉成像确定平面镜的位姿，并拍摄经过平面镜和对焦镜反射的屏幕的一张像，仅需一张图像即可实现对焦镜以及屏幕位姿的同时标定。本发明能够实现过渡成像偏折测量光路的快速几何标定，避免了繁杂的操作步骤，提高了复杂曲面偏折测量的效率与可靠性。
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公开(公告)号：CN112255758A
公开(公告)日：2021-01-22
申请号：CN202011196294.1
申请日：2020-10-30
Applicant: 复旦大学
Abstract: 本发明公开了一种偏折测量中实现屏幕和工件同时对焦的装置和方法，属于精密制造领域，其中装置包括相机、屏幕、被测工件和对焦镜，对焦镜为凹面反射镜，对焦镜用于将屏幕成像在被测工件处，相机、被测工件、对焦镜和屏幕的位置适于使屏幕经过对焦镜反射在被测工件上的第二像能够再次经过被测工件反射出第一像，且第一像与被测工件重合以便于相机同时对屏幕和被测工件对焦。本发明结构简单且使用方便，能够克服偏折测量的角度‑位置不确定度难题、克服屏幕离焦造成的相位解析误差，从而显著提高相位测量偏折术对复杂光学曲面的测量精度。
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公开(公告)号：CN113686546A
公开(公告)日：2021-11-23
申请号：CN202010424675.4
申请日：2020-05-19
Applicant: 复旦大学
Abstract: 本发明涉及光学工程领域，具体涉及一种离轴成像系统点扩散函数的测量方法与建模方法。本测量方法采用屏幕作为标准物显示圆斑特征，根据相机所获取斑点光强的梯度判断中心区域的轮廓线，将轮廓线之外的光强梯度向中心收缩得到点扩散函数弥散斑，本建模采用斜正态分布函数进行拟合，然后将函数表达式的每个参数拟合为斑点中心像素坐标的连续函数，由此实现离轴成像系统非对称点扩散函数的解析建模。本发明的测量方法和建模方法可以较好地克服传统双高斯函数无法准确描述离轴成像的局限性，提高对复杂的非对称点扩散函数的建模可靠性。
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