-
公开(公告)号：CN116757974A
公开(公告)日：2023-09-15
申请号：CN202310608697.X
申请日：2023-05-28
Abstract: 本发明属于光学测量技术领域，具体为一种透明光学元件混叠条纹分离方法。本发明采用快速迭代滤波和深度学习技术，包括：建立透明物体表面混叠条纹分离模型，使用相机对透明物体单次拍摄，根据二维快速迭代滤波原理，将测得图像迭代分解为多个二维固有模态函数(BIMF)；然后分别将对应两个条纹分量的BIMF组合得到上表面和下表面粗分离条纹；最后使用生成对抗网络对结果进行优化；同时，建立混叠条纹的数据集，并将该数据集图片进行快速迭代滤波获得粗分离条纹，以便作为神经网络训练数据。本发明将传统算法和神经网络结合，可有效提升神经网络分离速度，提高条纹分离结果的鲁棒性、准确性。
-
公开(公告)号：CN115371967B
公开(公告)日：2025-05-06
申请号：CN202211017993.4
申请日：2022-08-24
IPC: G01M11/02
Abstract: 本发明属于精密测量技术领域，具体为一种单目偏折测量工件自定位方法。本发明的步骤为：在完成偏折测量系统的几何标定后，通过基于工件名义面形的模拟光线追迹生成工件定位的训练样本，并基于高斯过程回归建立工件位姿与屏幕对应像素分布的映射关系，无需额外仪器即可完成工件定位。本发明能够使得偏折测量中的工件定位摆脱对第三方仪器的需求，且在工件面形与名义面形存在一定偏差的情况下仍能保持微米级的定位精度，可以有效降低偏折测量的成本。
-
公开(公告)号：CN115218821A
公开(公告)日：2022-10-21
申请号：CN202210776024.0
申请日：2022-07-02
Abstract: 本发明属于精密测量技术领域，具体为一种偏折测量系统中针对复杂透明曲面的拼接方法。本发明使用偏折测量系统对透明元件进行测量，获得待拼接的点云和梯度等表面相关信息；利用KD‑tree近邻点搜索方法获得子的重叠区域，利用多次奇异值分解法求出的相邻子区域之间位姿，通过刚体变换使目标子区域不断向源子区域移动靠近，通过点云与梯度的关联约束保证解的正确性，将透明元件上下表面整体进行刚体变换，利用上下表面对应点相互约束迭代位姿求解，从而达到上下表面在拼接测量中的运动一致性，以确保拼接精度。
-
公开(公告)号：CN115371967A
公开(公告)日：2022-11-22
申请号：CN202211017993.4
申请日：2022-08-24
IPC: G01M11/02
Abstract: 本发明属于精密测量技术领域，具体为一种单目偏折测量工件自定位方法。本发明的步骤为：在完成偏折测量系统的几何标定后，通过基于工件名义面形的模拟光线追迹生成工件定位的训练样本，并基于高斯过程回归建立工件位姿与屏幕对应像素分布的映射关系，无需额外仪器即可完成工件定位。本发明能够使得偏折测量中的工件定位摆脱对第三方仪器的需求，且在工件面形与名义面形存在一定偏差的情况下仍能保持微米级的定位精度，可以有效降低偏折测量的成本。
-
公开(公告)号：CN118442940A
公开(公告)日：2024-08-06
申请号：CN202410554244.8
申请日：2024-05-07
Applicant: 江淮前沿技术协同创新中心 , 复旦大学
Abstract: 本发明提供了一种基于高陡度空间各向异性对焦判据的三维变焦测量方法，属于精密测量技术领域，用大光瞳显微物镜接收经高陡度被测物体散射的光信号，利用高精度导轨与成像系统实现被测表面的定位，根据被测表面模型及位姿确定自适应权重因子。最后通过图像低秩优化算法解决弱散射图像的退化问题，进一步结合对焦判据计算各点所对应的对焦曲线，通过寻找最佳对焦位置完成被测表面三维形貌的测量。本发明采用上述的一种基于高陡度空间各向异性对焦判据的三维变焦测量方法，可以解决传统聚焦测量法难以对大陡度被测物体进行测量的问题。
-
Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN113362399B
公开(公告)日：2022-08-30
申请号：CN202110752293.9
申请日：2021-07-02
Applicant: 复旦大学
IPC: G06T7/80
Abstract: 本发明公开了一种偏折测量系统中对焦镜和屏幕位姿的标定方法，属于偏折测量技术领域，该方法使用内参已知的相机，采用带有标志圆斑的平面反射镜、待标定的对焦镜和屏幕组成成像光路。首先基于视觉成像确定平面镜的位姿，并拍摄经过平面镜和对焦镜反射的屏幕的一张像，仅需一张图像即可实现对焦镜以及屏幕位姿的同时标定。本发明能够实现过渡成像偏折测量光路的快速几何标定，避免了繁杂的操作步骤，提高了复杂曲面偏折测量的效率与可靠性。
-
公开(公告)号：CN113686552A
公开(公告)日：2021-11-23
申请号：CN202110985500.5
申请日：2021-08-26
Applicant: 复旦大学 , 中山亚威光电科技有限公司 , 中山复旦联合创新中心
IPC: G01M11/02
Abstract: 本发明涉及光学工程领域，提供了一种微透镜阵列光学功能的一体化测量方法和装置。该测量装置包括激光器、光束准直系统、2个分束器、参考镜、直角棱镜、消球差透镜、压电位移系统、直线电机移动系统以及相机。本发明通过改变相机位置，实现微透镜阵列样品透射波前和聚焦功能的一体化测量。通过放大成像光路放大了光斑成像的尺寸，而已通过相机更清晰地观测聚焦光斑的形态和分布；而且通过过渡成像扩大了相机前的工作空间，避免由于微透镜焦距过小造成的相机难以调节的难题。除此之外，本发明可与数字全息显微系统集成为表面形貌‑光学功能一体化测量系统，具有精度高、适用性广、兼容性强等优势。
-
公开(公告)号：CN112113527B
公开(公告)日：2021-07-13
申请号：CN202011010510.9
申请日：2020-09-23
Applicant: 复旦大学
Abstract: 本发明属于弱刚性薄形零件检测技术领域，具体涉及一种精准测量弱刚性薄形零件厚度的装置及方法。该装置包括基板，基板上设有与基板转动配合的真空回转工作台，真空回转工作台的两侧对称设有两个竖直导轨，两个竖直导轨之间设有横向导轨，横向导轨的两端分别与竖直导轨滑动连接；横向导轨上设有与横向导轨滑动连接的测量探针。本发明通过旋转真空回转工作台和调整测量探针的横向位移，对置于真空回转工作台上的弱刚性薄形零件的两个测量面对应的各个位点的坐标进行螺线式扫描检测，通过计算得到待测零件各个检测位点的厚度值，从而获取弱刚性薄形零件表面的形变信息，对弱刚性薄形零件的加工应用具有重要指导作用。
-
公开(公告)号：CN111366079B
公开(公告)日：2021-03-16
申请号：CN202010266084.9
申请日：2020-04-07
Applicant: 复旦大学
Abstract: 本发明涉及光学工程技术领域，且公开了一种快速确定偏折测量系统中各部件几何位置的标定方法，本发明方法包括：将一个标准圆柱的上平面做成标准镜面，在其外围做一圈均匀分布的黑色圆斑特征，其中一个圆斑半径较小，将镜面设为坐标系xOy平面，x轴设置在该圆斑所在轴上。首先根据镜面圆斑的成像利用PnP法直接确定标准镜面在相机坐标系中的位置，屏幕显示小尺寸的圆点阵列图样，利用相机拍摄经镜面反射的屏幕虚像，识别图像中屏幕显示的斑点，可以确定屏幕的位置。本发明可有效估计测量系统中各部件的位姿，包括相机、屏幕、卡盘和工件，操作简单，实用性强，对实现光学曲面的高精度偏折测量具有重要意义。
-
公开(公告)号：CN112255758A
公开(公告)日：2021-01-22
申请号：CN202011196294.1
申请日：2020-10-30
Applicant: 复旦大学
Abstract: 本发明公开了一种偏折测量中实现屏幕和工件同时对焦的装置和方法，属于精密制造领域，其中装置包括相机、屏幕、被测工件和对焦镜，对焦镜为凹面反射镜，对焦镜用于将屏幕成像在被测工件处，相机、被测工件、对焦镜和屏幕的位置适于使屏幕经过对焦镜反射在被测工件上的第二像能够再次经过被测工件反射出第一像，且第一像与被测工件重合以便于相机同时对屏幕和被测工件对焦。本发明结构简单且使用方便，能够克服偏折测量的角度‑位置不确定度难题、克服屏幕离焦造成的相位解析误差，从而显著提高相位测量偏折术对复杂光学曲面的测量精度。
-
-
-
-
-
-
-
-
-
Search Results
63
records
(took 0.02 seconds)
