基于光场分布的合成孔径相机标定方法

    公开(公告)号:CN110146032B

    公开(公告)日:2020-09-25

    申请号:CN201910436690.8

    申请日:2019-05-23

    Applicant: 复旦大学

    Abstract: 本发明属于精密测量技术领域,具体为一种基于光场分布的合成孔径相机标定方法。本发明方法步骤为:为了克服针孔相机模型的光瞳像差问题,将成像光瞳分割为多个子光瞳,按照实际光场分布,将成像传感器分割为子光瞳对应的不同成像区域;结合合成孔径相机模型联合标定优化,构建一个更符合实际成像过程的相机模型。本发明可有效消除单个针孔成像假设造成的光瞳像差,克服单目视觉的方向歧义性;对于提高摄影测量技术的测量精度有重要意义。

    基于标志点的偏折测量系统一体化几何标定方法

    公开(公告)号:CN110966935B

    公开(公告)日:2021-06-04

    申请号:CN201911287998.7

    申请日:2019-12-15

    Applicant: 复旦大学

    Abstract: 本发明属于精密测量技术领域,具体为一种基于标志点的偏折测量系统一体化几何标定方法。本发明方法包括:引入一个带标志点的反射镜辅助标定,以实现原位测量需求,克服离轴偏折测量系统中相机无法直接标定屏幕位姿的问题;在中间区域设置参考平面反射镜,其周围区域均匀分布两圈特征圆斑;将转台标定工作与屏幕‑相机标定工作融合,利用转台旋转标定板以提供多组姿态方程,用于对测量系统全局优化,并消除平面镜位姿不确定导致的屏幕位姿的歧义问题,实现屏幕‑相机位姿的精准标定。本发明可有效估计测量系统的各部件的位姿,包括相机、屏幕和转台,对实现高精度偏折测量技术具有重要意义。

    基于标志点的偏折测量系统一体化几何标定方法

    公开(公告)号:CN110966935A

    公开(公告)日:2020-04-07

    申请号:CN201911287998.7

    申请日:2019-12-15

    Applicant: 复旦大学

    Abstract: 本发明属于精密测量技术领域,具体为一种基于标志点的偏折测量系统一体化几何标定方法。本发明方法包括:引入一个带标志点的反射镜辅助标定,以实现原位测量需求,克服离轴偏折测量系统中相机无法直接标定屏幕位姿的问题;在中间区域设置参考平面反射镜,其周围区域均匀分布两圈特征圆斑;将转台标定工作与屏幕-相机标定工作融合,利用转台旋转标定板以提供多组姿态方程,用于对测量系统全局优化,并消除平面镜位姿不确定导致的屏幕位姿的歧义问题,实现屏幕-相机位姿的精准标定。本发明可有效估计测量系统的各部件的位姿,包括相机、屏幕和转台,对实现高精度偏折测量技术具有重要意义。

    基于光场分布的合成孔径相机标定方法

    公开(公告)号:CN110146032A

    公开(公告)日:2019-08-20

    申请号:CN201910436690.8

    申请日:2019-05-23

    Applicant: 复旦大学

    Abstract: 本发明属于精密测量技术领域,具体为一种基于光场分布的合成孔径相机标定方法。本发明方法步骤为:为了克服针孔相机模型的光瞳像差问题,将成像光瞳分割为多个子光瞳,按照实际光场分布,将成像传感器分割为子光瞳对应的不同成像区域;结合合成孔径相机模型联合标定优化,构建一个更符合实际成像过程的相机模型。本发明可有效消除单个针孔成像假设造成的光瞳像差,克服单目视觉的方向歧义性;对于提高摄影测量技术的测量精度有重要意义。

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