一种针对光学自由曲面子孔径偏折测量的精确自定位方法

    公开(公告)号:CN110428471B

    公开(公告)日:2021-12-07

    申请号:CN201910606141.0

    申请日:2019-07-05

    Applicant: 复旦大学

    Abstract: 本发明涉及一种针对光学自由曲面子孔径偏折测量的精确自定位方法,包括以下步骤:1)计算名义面形f上的测量点P的坐标并获取测量点P对应的法向量n;2)根据法向量n逆向追迹屏幕坐标S;3)将回转台从位置A旋转一定角度至位置B,并测量两个位置下的偏折图像,构建最小二乘代价方程;4)求解最小二乘代价方程,即得到实测子孔径表面的位置。与现有技术相比,本发明具有标定简单准确等优点。

    基于三值化三色交叉网格条纹的三维面形测量方法

    公开(公告)号:CN105937887B

    公开(公告)日:2019-05-03

    申请号:CN201610252473.X

    申请日:2016-04-21

    Applicant: 复旦大学

    Abstract: 本发明属于图像处理和精密测量技术领域,具体为一种基于三值化三色交叉网格条纹的三维面形测量方法。本发明用液晶屏幕生成一幅三值化三色交叉网格条纹图样,此图样由红绿蓝三幅单色网格条纹图像叠加而成,每两幅单色条纹在横向和纵向存在固定的相移量,总相移量为一个条纹宽度,用摄像装置记录下被测镜面反射后的图样变化,并将各像素的三色灰度值进行三色化校正;利用相位计算公式和时间相位展开方法得到绝对相位,根据相位和系统标定参数确定被测物体表面的三维形状。本发明通过增加条纹信号的维度,仅需一张图像就可重构被测面形,便于动态测量,提高了相位偏折测量技术的抗干扰能力和测量速度,克服了传统正弦条纹对环境干扰光极为敏感、易受干扰等缺点。本方法可广泛应用于光电装备、航空航天等领域。

    一种针对光学自由曲面子孔径偏折测量的精确自定位方法

    公开(公告)号:CN110428471A

    公开(公告)日:2019-11-08

    申请号:CN201910606141.0

    申请日:2019-07-05

    Applicant: 复旦大学

    Abstract: 本发明涉及一种针对光学自由曲面子孔径偏折测量的精确自定位方法,包括以下步骤:1)计算名义面形f上的测量点P的坐标并获取测量点P对应的法向量n;2)根据法向量n逆向追迹屏幕坐标S;3)将回转台从位置A旋转一定角度至位置B,并测量两个位置下的偏折图像,构建最小二乘代价方程;4)求解最小二乘代价方程,即得到实测子孔径表面的位置。与现有技术相比,本发明具有标定简单准确等优点。

    基于三值化三色交叉网格条纹的三维面形测量方法

    公开(公告)号:CN105937887A

    公开(公告)日:2016-09-14

    申请号:CN201610252473.X

    申请日:2016-04-21

    Applicant: 复旦大学

    CPC classification number: G01B11/254

    Abstract: 本发明属于图像处理和精密测量技术领域,具体为一种基于三值化三色交叉网格条纹的三维面形测量方法。本发明用液晶屏幕生成一幅三值化三色交叉网格条纹图样,此图样由红绿蓝三幅单色网格条纹图像叠加而成,每两幅单色条纹在横向和纵向存在固定的相移量,总相移量为一个条纹宽度,用摄像装置记录下被测镜面反射后的图样变化,并将各像素的三色灰度值进行三色化校正;利用相位计算公式和时间相位展开方法得到绝对相位,根据相位和系统标定参数确定被测物体表面的三维形状。本发明通过增加条纹信号的维度,仅需一张图像就可重构被测面形,便于动态测量,提高了相位偏折测量技术的抗干扰能力和测量速度,克服了传统正弦条纹对环境干扰光极为敏感、易受干扰等缺点。本方法可广泛应用于光电装备、航空航天等领域。

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