银纳米颗粒在二氧化钛单晶表面形成的光学防伪标识及其制作方法

    公开(公告)号:CN106340239B

    公开(公告)日:2019-04-05

    申请号:CN201610918898.X

    申请日:2016-10-21

    Applicant: 复旦大学

    Abstract: 本发明属于防伪技术领域,具体为一种银纳米颗粒在二氧化钛单晶表面形成的光学防伪标识及其制作方法。本发明首先把硝酸银溶液滴到二氧化钛单晶片的表面,然后用紫外灯照射几分钟,使二氧化钛单晶片表面生长上银纳米颗粒;然后利用微米级的光刻版套在样品表面,同时用单色光照射银纳米颗粒,由于热电子转移发生化学反应,使样品表面的银纳米颗粒的等离子体共振峰位发生变化,从而形成一个有波长选择特性的图案。此图案可以用来做微纳米级别的防伪标识。本发明方法简单易行且周期很短,得到的防伪标识有波长选择性,分辨率高,这是一般纸质防伪标识所不具备的。

    微型透镜检测系统及其检测方法

    公开(公告)号:CN111397861B

    公开(公告)日:2021-03-30

    申请号:CN202010305955.3

    申请日:2020-04-17

    Abstract: 本发明涉及一种微型透镜检测系统及其检测方法,包括:单色光源;第一分束器,第一分束器将单色光源的光束分为第一光束和第二光束;对应第一光束依次设置的第一反射镜、第一物镜、第一透镜、第二分束器、第一实像面和第一探测器;以及依次沿第二光束设置的第二物镜、第二透镜和第二反射镜,第二光束经第二反射镜反射入第二分束器中与第一光束合成一束;通过放置样品于第一反射镜与第一物镜之间,使得第一光束经样品后与第二光束发生干涉,且第一探测器获取第一光束与第二光束的干涉条纹。本发明有效地解决了微型透镜尺寸小而造成的检测困难的问题,通过测量样品对入射光的相位调制能力,以评价样品的成像质量和品质,使得检测结果更加真实可靠。

    微型透镜检测系统及其检测方法

    公开(公告)号:CN111397861A

    公开(公告)日:2020-07-10

    申请号:CN202010305955.3

    申请日:2020-04-17

    Abstract: 本发明涉及一种微型透镜检测系统及其检测方法,包括:单色光源;第一分束器,第一分束器将单色光源的光束分为第一光束和第二光束;对应第一光束依次设置的第一反射镜、第一物镜、第一透镜、第二分束器、第一实像面和第一探测器;以及依次沿第二光束设置的第二物镜、第二透镜和第二反射镜,第二光束经第二反射镜反射入第二分束器中与第一光束合成一束;通过放置样品于第一反射镜与第一物镜之间,使得第一光束经样品后与第二光束发生干涉,且第一探测器获取第一光束与第二光束的干涉条纹。本发明有效地解决了微型透镜尺寸小而造成的检测困难的问题,通过测量样品对入射光的相位调制能力,以评价样品的成像质量和品质,使得检测结果更加真实可靠。

    动量空间成像系统及其应用

    公开(公告)号:CN108414450A

    公开(公告)日:2018-08-17

    申请号:CN201810101383.X

    申请日:2018-02-01

    CPC classification number: G01N21/17 G01N2021/1765

    Abstract: 本发明公开了一种动量空间成像系统及其应用。该动量空间成像系统至少包括下述部件:物镜、光学透镜A、光学透镜B和成像设备,光信号依次通过所述的物镜、所述的光学透镜A、所述的光学透镜B后由所述的成像设备接收。本发明的动量空间成像系统可用于测量和表征微纳光子学材料在动量空间中的光学信息,如带隙性质、能带结构、色散关系等。该系统可以实现显微区域样品的光学测量,最小测量范围可达1微米;还可以实现动量空间的观察测量。动量空间成像系统能够对样品的测量区域进行精确选择,并可进一步用于样品动量空间信息的选择与探测。

    动量空间成像系统及其应用

    公开(公告)号:CN108414450B

    公开(公告)日:2021-08-10

    申请号:CN201810101383.X

    申请日:2018-02-01

    Abstract: 本发明公开了一种动量空间成像系统及其应用。该动量空间成像系统至少包括下述部件:物镜、光学透镜A、光学透镜B和成像设备,光信号依次通过所述的物镜、所述的光学透镜A、所述的光学透镜B后由所述的成像设备接收。本发明的动量空间成像系统可用于测量和表征微纳光子学材料在动量空间中的光学信息,如带隙性质、能带结构、色散关系等。该系统可以实现显微区域样品的光学测量,最小测量范围可达1微米;还可以实现动量空间的观察测量。动量空间成像系统能够对样品的测量区域进行精确选择,并可进一步用于样品动量空间信息的选择与探测。

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