一种硅基CMOS图像传感器及其抑制光生载流子表面陷阱复合的方法

    公开(公告)号:CN103915457A

    公开(公告)日:2014-07-09

    申请号:CN201410095466.4

    申请日:2014-03-14

    Applicant: 复旦大学

    Inventor: 蒋玉龙 包永霞

    Abstract: 本发明属于微电子技术领域,具体为一种硅基CMOS图像传感器及其抑制光生载流子表面陷阱复合的方法。本发明硅基CMOS图像传感器,具有光生载流子的转移效率高、表面复合率低的特性,具体包括:光电二极管(PPD),浮动扩散区(FD),传递晶体管(TX),浅槽隔离区(STI),抗穿通注入区(APT),以及通过两次不同位置、不同能量、不同剂量的离子注入在局部自对准形成的表面陷阱抑制层,同时获得高的光生载流子转移效率和低的表面陷阱复合率。

    一种硅基CMOS图像传感器提高电子转移效率的方法

    公开(公告)号:CN103904092B

    公开(公告)日:2017-01-25

    申请号:CN201410093313.6

    申请日:2014-03-14

    Applicant: 复旦大学

    Inventor: 蒋玉龙 包永霞

    Abstract: 本发明属于微电子技术领域,具体为一种硅基CMOS图像传感器及其提高电子转移效率的方法。本发明通过在感光区和转移晶体管(TX)沟道区的接触部分引入从体内到表面的递增掺杂,使衬底体内到TX表面沟道的电势逐步递增,实现光生载流子的完全转移,并可以达到理论的转移载流子数目的极限,成功解决了光生载流子不能完全转移引起的噪声问题。

    一种硅基CMOS图像传感器及其提高电子转移效率的方法

    公开(公告)号:CN103904092A

    公开(公告)日:2014-07-02

    申请号:CN201410093313.6

    申请日:2014-03-14

    Applicant: 复旦大学

    Inventor: 蒋玉龙 包永霞

    Abstract: 本发明属于微电子技术领域,具体为一种硅基CMOS图像传感器及其提高电子转移效率的方法。本发明通过在感光区和转移晶体管(TX)沟道区的接触部分引入从体内到表面的递增掺杂,使衬底体内到TX表面沟道的电势逐步递增,实现光生载流子的完全转移,并可以达到理论的转移载流子数目的极限,成功解决了光生载流子不能完全转移引起的噪声问题。

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