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    中子和γ射线监测器
    1.
    发明公开
    中子和γ射线监测器 失效

    公开(公告)号：CN101443679A

    公开(公告)日：2009-05-27

    申请号：CN200780017328.2

    申请日：2007-05-25

    Applicant: 塞莫尼根分析技术有限责任公司

    Inventor： 李·格罗津斯

    IPC: G01T3/06 ,  G01T3/00

    CPC classification number: G01T3/06 ,  G01T1/2018

    Abstract: 本发明涉及一种用于选择性辐射探测的装置，包括便于探测例如钚等中子发射源的中子探测器(104、108)，便于探测例如铀等γ射线源的γ射线探测器(108)。该装置包括光学耦合到第一光学探测器(104)的第一光导(102)；光学耦合到第二光学探测器(108)的第二光导(106)，对于入射光子不透明的中子闪烁体板(110)，所述中子闪烁体板夹在第一和第二光导之间。该第二光导包括γ射线闪烁体材料(107)。

    小聚光点x射线荧光（XRF）分析仪
    2.
    发明授权
    小聚光点x射线荧光（XRF）分析仪 有权

    公开(公告)号：CN101652655B

    公开(公告)日：2012-12-12

    申请号：CN200880010874.8

    申请日：2008-02-12

    Applicant: 塞莫尼根分析技术有限责任公司

    Inventor： 斯坦尼斯劳·皮奥雷克 ,  迈克尔·E·杜格斯 ,  保罗·埃斯塔布鲁克斯 ,  李·格罗津斯 ,  马克·汉密尔顿 ,  肯尼思·P·马丁 ,  佩莱希夫·斯里萨兰

    IPC: G01N23/223

    CPC classification number: G01N23/223 ,  G01N2223/076

    Abstract: 一种手持的、独立的x射线荧光(XRF)分析仪(200)在样本(604)上产生小x射线聚光点以询问样本(604)毫米大小特征尺寸的区域上的元素组分。该分析仪(200)包括用于将x射线光束(304)对准该样本(604)上期望位置的x射线光源。该分析仪(200)可以包括朝向该样本(604)的部分的数码相机(316)以使该分析仪(200)容易对准，该部分被或将要被该x射线聚光点询问。该分析仪可以在所显示的图像中生成刻线(908，910)以指示该样本(604)的该部分，该部分被或将要被该x射线光束(304)照亮。该分析仪(200)可以包括沿着该聚光点和该检测器(314)之间的光线路径定位的检测器准直仪(1200)。该分析仪(200)可以包括该光束(304)和该响应信号(312)所穿过的室和用于接收吹扫气体罐(2502)一端的联轴节，该吹扫气体罐用于向该室提供吹扫气体。该分析仪(200)可以包括可操作成检测该室中存在的周围气体量的感应器。公开一种校准目标(2200)和方法(2300-2308)用于校准该分析仪(200)中刻线的位置。

    中子和γ射线监测器
    3.
    发明授权
    中子和γ射线监测器 失效

    公开(公告)号：CN101443679B

    公开(公告)日：2012-05-23

    申请号：CN200780017328.2

    申请日：2007-05-25

    Applicant: 塞莫尼根分析技术有限责任公司

    Inventor： 李·格罗津斯

    IPC: G01T3/06 ,  G01T3/00

    CPC classification number: G01T3/06 ,  G01T1/2018

    Abstract: 本发明涉及一种用于选择性辐射探测的装置，包括便于探测例如钚等中子发射源的中子探测器(104、108)，便于探测例如铀等γ射线源的γ射线探测器(108)。该装置包括光学耦合到第一光学探测器(104)的第一光导(102)；光学耦合到第二光学探测器(108)的第二光导(106)，对于入射光子不透明的中子闪烁体板(110)，所述中子闪烁体板夹在第一和第二光导之间。该第二光导包括γ射线闪烁体材料(107)。

    小聚光点x射线荧光（XRF）分析仪
    5.
    发明公开
    小聚光点x射线荧光（XRF）分析仪 有权

    公开(公告)号：CN101652655A

    公开(公告)日：2010-02-17

    申请号：CN200880010874.8

    申请日：2008-02-12

    Applicant: 塞莫尼根分析技术有限责任公司

    Inventor： 斯坦尼斯劳·皮奥雷克 ,  迈克尔·E·杜格斯 ,  保罗·埃斯塔布鲁克斯 ,  李·格罗津斯 ,  马克·汉密尔顿 ,  肯尼思·P·马丁 ,  佩莱希夫·斯里萨兰

    IPC: G01N23/223

    CPC classification number: G01N23/223 ,  G01N2223/076

    Abstract: 一种手持的、独立的x射线荧光(XRF)分析仪(200)在样本(604)上产生小x射线聚光点以询问样本(604)毫米大小特征尺寸的区域上的元素组分。该分析仪(200)包括用于将x射线光束(304)对准该样本(604)上期望位置的x射线光源。该分析仪(200)可以包括朝向该样本(604)的部分的数码相机(316)以使该分析仪(200)容易对准，该部分被或将要被该x射线聚光点询问。该分析仪可以在所显示的图像中生成刻线(908，910)以指示该样本(604)的该部分，该部分被或将要被该x射线光束(304)照亮。该分析仪(200)可以包括沿着该聚光点和该检测器(314)之间的光线路径定位的检测器准直仪(1200)。该分析仪(200)可以包括该光束(304)和该响应信号(312)所穿过的室和用于接收吹扫气体罐(2502)一端的联轴节，该吹扫气体罐用于向该室提供吹扫气体。该分析仪(200)可以包括可操作成检测该室中存在的周围气体量的感应器。公开一种校准目标(2200)和方法(2300-2308)用于校准该分析仪(200)中刻线的位置。

    具有渐缩吸收挡圈的便携式X射线荧光仪
    6.
    发明公开
    具有渐缩吸收挡圈的便携式X射线荧光仪 无效

    公开(公告)号：CN101455120A

    公开(公告)日：2009-06-10

    申请号：CN200780019171.7

    申请日：2007-05-25

    Applicant: 塞莫尼根分析技术有限责任公司

    Inventor： 李·格罗津斯

    IPC: H05B33/00

    CPC classification number: G01N23/223 ,  G01N2223/076

    Abstract: 本发明提供一种用于测量测试材料元素组成的仪器和方法。该仪器具有用于照射该测试材料的被照射区域的穿透性辐射源，用于探测由该测试材料发出的荧光并产生探测器信号的探测器和用于将该探测器信号转化为表征该测试材料组成的光谱的控制器。衰减材料的压板从之相邻并被包围的测试材料的被照射区域向外延伸。在一些实施例中，该衰减压板的厚度渐缩，例如随着距测试材料中央的被照射区域的半径距离的增加而减小。

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