-
公开(公告)号:CN103249805B
公开(公告)日:2017-02-08
申请号:CN201180055193.5
申请日:2011-11-16
Applicant: 圣戈班晶体及检测公司
CPC classification number: C09K11/7781 , C09K11/7772 , C09K11/7773 , C09K11/7774 , C30B13/24 , C30B15/00 , C30B29/34
Abstract: 成像设备中的电离粒子检测器中。本发明涉及一种材料,其包含经不同于Ln的元素B掺杂的稀土(Ln)硅酸盐,B是从Ce、Pr、Tb中选出,其中B至少部分地呈其4+氧化态(B4+),所述材料中的B4+的量以质量计包含于介于0.0001%与0.1%之间。这种材料可能是闪烁材料,并且相对于在X射线照射期间所测量的强度,其在100ms之后可能呈现一般小于200ppm的余
-
公开(公告)号:CN103249805A
公开(公告)日:2013-08-14
申请号:CN201180055193.5
申请日:2011-11-16
Applicant: 圣戈班晶体及检测公司
Inventor: 萨米埃尔·布落胡塔 , 埃里克·麦特曼 , 达米安·保韦尔斯 , 布鲁诺·维亚纳 , 弗拉迪米尔·乌斯本斯基
CPC classification number: C09K11/7781 , C09K11/7772 , C09K11/7773 , C09K11/7774 , C30B13/24 , C30B15/00 , C30B29/34
Abstract: 本发明涉及一种材料,其包含经不同于Ln的元素B掺杂的稀土(Ln)硅酸盐,B是从Ce、Pr、Tb中选出,其中B至少部分地呈其4+氧化态(B4+),所述材料中的B4+的量以质量计包含于介于0.0001%与0.1%之间。这种材料可能是闪烁材料,并且相对于在X射线照射期间所测量的强度,其在100ms之后可能呈现一般小于200ppm的余辉。所述材料优选地进行共掺杂。其可以使用氧化退火而获得。其特别适合集成于可以用于医疗成像设备中的电离粒子检测器中。
-