公开(公告)号：CN101173972B

公开(公告)日：2011-06-15

申请号：CN200710184831.9

申请日：2007-10-30

Applicant: 国际商业机器公司 ,  索尼计算机娱乐公司

Inventor： 桑格.H.唐 ,  布赖恩.弗拉克斯 ,  吉勒斯.格韦斯 ,  查尔斯.R.约翰斯 ,  布拉德.W.迈克尔 ,  爱川诚 ,  泷口严 ,  田村哲司

IPC: G01R31/00 ,  G01R31/28 ,  G01R31/317 ,  G01R31/3173

CPC classification number: G01R31/3004

Abstract: 在一个实施例中，一种测试系统测试被测设备(DUT)。DUT包括执行内建自测(BIST)程序的内部测试控制器。内建自测程序包括基于阵列的自动内建自测程序、离散和组合逻辑内建自测程序、以及功能架构验证程序(AVP)。外部制造系统测试控制器管理DUT内的内部测试控制器，并且为向DUT供电的电源输入电压确定最小运行电压电平。逻辑仿真器提供建模能力，以进一步增强DUT的最小电压电源输入运行值的发展。

公开(公告)号：CN101173972A

公开(公告)日：2008-05-07

申请号：CN200710184831.9

申请日：2007-10-30

Applicant: 国际商业机器公司 ,  索尼计算机娱乐公司

Inventor： 桑格·H·唐 ,  布赖恩·弗拉克斯 ,  吉勒斯·格韦斯 ,  查尔斯·R·约翰斯 ,  布拉德·W·迈克尔 ,  爱川诚 ,  泷口严 ,  田村哲司

IPC: G01R31/00 ,  G01R31/28 ,  G01R31/317 ,  G01R31/3173

CPC classification number: G01R31/3004

Abstract: 本发明涉及用于测试电子设备中最小运行电压的方法和装置在一个实施例中，一种测试系统测试被测设备(DUT)。DUT包括执行内建自测(BIST)程序的内部测试控制器。内建自测程序包括基于阵列的自动内建自测程序、离散和组合逻辑内建自测程序、以及功能架构验证程序(AVP)。外部制造系统测试控制器管理DUT内的内部测试控制器，并且为向DUT供电的电源输入电压确定最小运行电压电平。逻辑仿真器提供建模能力，以进一步增强DUT的最小电压电源输入运行值的发展。

公开(公告)号：CN101361033A

公开(公告)日：2009-02-04

申请号：CN200680051222.X

申请日：2006-11-20

Applicant: 索尼计算机娱乐公司

Inventor： 田村哲司 ,  泷口岩 ,  村木洋介 ,  广井聪幸 ,  井上光司 ,  爱川诚

IPC: G06F1/32 ,  G06F15/78 ,  H01L21/822 ,  H01L27/04

CPC classification number: G06F1/3203 ,  G06F1/3296 ,  Y02D10/172

Abstract: 对应提供给微处理器的电源电压进行最优化。判定部(22)判定微处理器(10)的状态。设定部(24)根据判定部(22)所判定出的微处理器(10)的状态，设定应提供给微处理器(10)的电源电压(Vdd)。电源电路(26)将在设定部(24)中设定的电源电压(Vdd)经由电源线(12)提供给微处理器(10)。判定部(22)在每个预定的定时判定微处理器(10)的状态，设定部(24)在每次判定部(22)做出判定时对电源电压(Vdd)进行再设定。