公开(公告)号：CN103081018A

公开(公告)日：2013-05-01

申请号：CN201180042043.0

申请日：2011-08-26

Applicant: 国际商业机器公司

Inventor： E·S·埃里弗塞里乌 ,  A·潘塔齐 ,  N·帕潘德雷乌 ,  C·伯津迪斯 ,  A·塞巴斯蒂安

IPC: G11C13/00

CPC classification number: G11C13/0004 ,  G11C7/1006 ,  G11C11/5678 ,  G11C13/004

Abstract: 本发明提供用于确定相变存储器单元的状态的方法和装置。对单元进行多个测量，测量依赖于单元的亚阈值电流比对电压特性。处理测量以获得依赖于电流比对电压特性的斜率的度量。然后根据不同于绝对单元电阻、基本上不受漂移影响的这一度量确定单元的状态。

公开(公告)号：CN103081018B

公开(公告)日：2016-06-22

申请号：CN201180042043.0

申请日：2011-08-26

Applicant: 国际商业机器公司

Inventor： E·S·埃里弗塞里乌 ,  A·潘塔齐 ,  N·帕潘德雷乌 ,  C·伯津迪斯 ,  A·塞巴斯蒂安

IPC: G11C13/00

CPC classification number: G11C13/0004 ,  G11C7/1006 ,  G11C11/5678 ,  G11C13/004

Abstract: 提供用于确定相变存储器单元的状态的方法和装置。对单元进行多个测量，测量依赖于单元的亚阈值电流比对电压特性。处理测量以获得依赖于电流比对电压特性的斜率的度量。然后根据不同于绝对单元电阻、基本上不受漂移影响的这一度量确定单元的状态。