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公开(公告)号：CN118369584A
公开(公告)日：2024-07-19
申请号：CN202280079695.X
申请日：2022-11-09
Applicant: 国际商业机器公司
Abstract: 一种在晶片探测系统中测试至少一个单芯片(10)的方法，至少包括：提供适配器板(20)，所述适配器板具有用于接触所述晶片探测系统的真空吸盘(60)的界面表面(16)，所述适配器板被配置成将所述至少一个单芯片容纳在切口(28)中，其中芯片后表面(12)与所述界面表面(16)齐平；将具有所述至少一个单芯片的所述适配器板装载到所述晶片探测系统中；确定在所述搜索区域(50)中所述至少一个单芯片在所述适配器板中的精确位置；以及利用存储在晶片探测系统的控制器中的测试例程测试至少一个单芯片。用于在晶片探测系统中测试至少一个单晶片的设备及适配器板。
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公开(公告)号：CN119654608A
公开(公告)日：2025-03-18
申请号：CN202380054415.4
申请日：2023-07-17
Applicant: 国际商业机器公司
Inventor： T·韦伯尔 , A·库克罗博 , A·特纳 , C·雅科比 , E·恩格勒 , E·麦凯恩 , K·罗威 , P·雷斯特勒 , P·帕拉苏拉玛 , A·布约克托苏诺格鲁 , K·安德森 , S·凯里 , K·切鲁约特 , D·凯斯 , I·本德理赫姆 , E·弗拉尔 , I·卡迈克尔 , G·斯蒂尔
IPC: G06F1/30 , G06F1/26 , G06F1/28 , G06F1/329 , G06F1/3228 , G06F1/3296 , G06F9/50
Abstract: 实施例包括响应于在操作期间监测处理器，检测处理器中的节流量的第一数量，确定节流量的第一数量满足关于节流量阈值的第一条件，以及将处理器的电压电平修改第一量。实施例包括响应于将处理器的电压电平修改第一量，检测处理器中的节流量的第二数量，确定节流量的第二数量满足关于节流量阈值的第二条件，以及将处理器的电压电平修改第二量。
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公开(公告)号：CN119563148A
公开(公告)日：2025-03-04
申请号：CN202380054115.6
申请日：2023-07-17
Applicant: 国际商业机器公司
Inventor： A·库克罗博 , A·特纳 , C·雅科比 , E·恩格勒 , E·麦凯恩 , K·罗威 , P·雷斯特勒 , P·帕拉苏拉玛 , T·韦伯尔 , A·布约克托苏诺格鲁 , K·安德森 , S·凯里 , K·切鲁约特 , D·凯斯 , I·本德理赫姆 , I·卡迈克尔
IPC: G06F1/26
Abstract: 实施例包括响应于在操作期间监测处理器，检测处理器中的核心恢复事件的第一数量，确定核心恢复事件的第一数量满足第一核心恢复事件阈值的第一条件，以及将处理器的至少一个下垂传感器参数的值修改第一量。该至少一个下垂传感器参数影响对电压下垂的灵敏度。响应于将下垂传感器参数的值修改第一量，检测处理器中的核心恢复事件的第二数量。确定核心恢复事件的第二数量满足第二核心恢复事件阈值的第二条件，并且将至少一个下垂传感器参数的值修改第二量。
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