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公开(公告)号：CN114035541A
公开(公告)日：2022-02-11
申请号：CN202111265415.8
申请日：2021-10-28
Applicant: 国核自仪系统工程有限公司
IPC: G05B23/02
Abstract: 本发明提供一种仪控系统的测试装置，包括：控制器、若干信号发生器和若干数据采集卡；控制器分别与每一信号发生器和每一数据采集卡通信连接；每一信号发生器还与仪控系统的输入信号接口电连接，每一数据采集卡还与仪控系统的输出信号接口电连接；控制器用于向信号发生器发送控制信号；信号发生器用于根据控制信号产生激励信号，并将激励信号发送至仪控系统的输入信号接口；数据采集卡用于接收仪控系统的输出信号接口发送的输出信号，并对输出信号进行采样得到采样信号，将采样信号发送至控制器；控制器还用于判断采样信号是否符合预期。本发明实现大规模信号激励和大规模信号采集，实现了仪控系统测试自动化，大幅提高了仪控系统的测试效率。
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