公开(公告)号：CN119126119A

公开(公告)日：2024-12-13

申请号：CN202411092297.9

申请日：2024-08-09

Applicant: 国家气象信息中心(中国气象局气象数据中心)

Inventor： 李庆雷 ,  王蕙莹 ,  朱亚妮 ,  张志强 ,  曹丽娟 ,  傅新姝 ,  刘未希 ,  费烨 ,  马亚平 ,  朱智 ,  高亮书 ,  吴肖燕

IPC: G01S13/95 ,  G01S7/40 ,  G06F17/18

Abstract: 本发明公开地基微波辐射计反演二次产品质量控制优化方法，允许值检查，检查被检数据是否在该检查要素观测值或统计值允许的物理范围内；针对温度廓线，采用温度界限值分层设置方法；针对温度廓线，利用探空资料开展协同质控；主要变化范围检查，检查被检数据是否在所属测站该要素、该层次允许的气候学变化范围内；垂直一致性检查；进行数据评估，采用平均偏差、均方根误差、偏差分布的标准差和欧式距离进行评估。在已有快速质控方案的基础上，针对质控阈值参数设置方面的不足，在温度界限值分层设置、与同时次的探空资料开展协同质控、温度垂直变率的标准差阈值参数动态调整等三个方面，改进了原有质控方案的效果。