一种测量物体凹痕的系统及方法

    公开(公告)号:CN107289860B

    公开(公告)日:2018-07-13

    申请号:CN201710600605.8

    申请日:2017-07-21

    Abstract: 本发明公开一种测量物体凹痕的系统及方法。该系统包括:封闭箱、平行光光源、光源支架、工业相机、控制器;内部箱顶固定有工业相机;内部侧面箱壁上均匀固定有K个光源支架,在封闭箱侧面箱壁上形成P层Q列,其中P×Q=K;每一个光源支架上安装一个平行光光源,同一高度的平行光光源的入射光与封闭箱的箱底夹角相同,不同高度的平行光光源的入射角不同;封闭箱的箱底用于放置被测物体;工业相机和K个平行光光源均与控制器连接;控制器控制平行光光源,还控制工业相机拍摄被测物体,根据拍摄的图像确定凹痕表面几何尺寸与深度。采用本发明的系统或方法,实现对物体凹痕的表面几何尺寸和深度的测量,装置简单,成本低,便于组装和拆卸,实用性高。

    一种测量物体凹痕的系统及方法

    公开(公告)号:CN107289860A

    公开(公告)日:2017-10-24

    申请号:CN201710600605.8

    申请日:2017-07-21

    CPC classification number: G01B11/00 G01B11/22 G06T7/64

    Abstract: 本发明公开一种测量物体凹痕的系统及方法。该系统包括:封闭箱、平行光光源、光源支架、工业相机、控制器;内部箱顶固定有工业相机;内部侧面箱壁上均匀固定有K个光源支架,在封闭箱侧面箱壁上形成P层Q列,其中P×Q=K;每一个光源支架上安装一个平行光光源,同一高度的平行光光源的入射光与封闭箱的箱底夹角相同,不同高度的平行光光源的入射角不同;封闭箱的箱底用于放置被测物体;工业相机和K个平行光光源均与控制器连接;控制器控制平行光光源,还控制工业相机拍摄被测物体,根据拍摄的图像确定凹痕表面几何尺寸与深度。采用本发明的系统或方法,实现对物体凹痕的表面几何尺寸和深度的测量,装置简单,成本低,便于组装和拆卸,实用性高。

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