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公开(公告)号：CN102546057A
公开(公告)日：2012-07-04
申请号：CN201110453028.7
申请日：2011-12-30
Applicant: 国家无线电监测中心检测中心 , 天维讯达无线电设备检测(北京)有限责任公司
IPC: H04B17/00
Abstract: 本发明涉及一种手机的全向辐射功率同步测量系统，属于无线通信产品的射频测试技术领域。首先，在高电导率金属构成的屏蔽室内放置并同步旋转三组金属反射体，形成过模谐振的工作状态；然后，通过校准获取各测试频率所对应的换算因子；接下来，利用综测仪模拟基站与待测手机建立连接，设定测试频率并将手机置于最大功率发射的状态；然后，利用步进电机驱动反射体旋转，记录反射体在每个位置时的接收功率，形成测试结果序列；最后，选取上述测试结果序列的中值，结合校准因子换算得到全向辐射功率(TRP)。本发明提出的测试系统具有费用低，占地小，维护简单等优点。
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公开(公告)号：CN102621913B
公开(公告)日：2014-06-04
申请号：CN201210073432.6
申请日：2012-03-20
Applicant: 天维讯达无线电设备检测(北京)有限责任公司 , 国家无线电监测中心检测中心
IPC: G05B19/042
Abstract: 一种基于ARM和DSP的射频切换单元控制方法，主要包括射频自动控制系统下位机控制单元模块控制流程以及上位机控制单元模块控制流程，对于下位机控制单元模块控制流程，主要包括电源和中央处理器的初始化、设置模块地址选择电路模块、中央处理器对上位机传输的数据进行解析等步骤，而对于上位机控制单元模块控制流程，主要包括电源、GPIB总线、中央处理器的初始化、中央处理器根据GPIB总线的状态进行读写操作等步骤，整个射频切换单元方法就是通过上位机模块和下位机模块的相互数据交互实现的。该方法具有简单易行、操作灵活的优点。
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公开(公告)号：CN103368667A
公开(公告)日：2013-10-23
申请号：CN201210516105.3
申请日：2012-12-06
Applicant: 国家无线电监测中心检测中心 , 天维讯达无线电设备检测(北京)有限责任公司
IPC: H04B17/00
Abstract: 一种基于PXI总线构架的射频测试单元，主要包括一个嵌入式图形控制处理器S3C2440、PXI总线、6级同轴开关、第一高通滤波器、第二高通滤波器、低通滤波器、第一陷波器、第二陷波器、第三陷波器、第一放大器和第二放大器组成，该PXI总线构架的射频测试单元克服了在射频终端设备进行测试过程中，不同测试项目需要不同信号处理路径的问题，可将所有核准辐射骚扰及辐射杂散指标的测试链路进行系统集成，避免了手动测试带来的误差，提高了测试准确度和测试效率。
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公开(公告)号：CN102621913A
公开(公告)日：2012-08-01
申请号：CN201210073432.6
申请日：2012-03-20
Applicant: 天维讯达无线电设备检测(北京)有限责任公司 , 国家无线电监测中心检测中心
IPC: G05B19/042
Abstract: 一种基于ARM和DSP的射频切换单元控制方法，主要包括射频自动控制系统下位机控制单元模块控制流程以及上位机控制单元模块控制流程，对于下位机控制单元模块控制流程，主要包括电源和中央处理器的初始化、设置模块地址选择电路模块、中央处理器对上位机传输的数据进行解析等步骤，而对于上位机控制单元模块控制流程，主要包括电源、GPIB总线、中央处理器的初始化、中央处理器根据GPIB总线的状态进行读写操作等步骤，整个射频切换单元方法就是通过上位机模块和下位机模块的相互数据交互实现的。该方法具有简单易行、操作灵活的优点。
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公开(公告)号：CN103368667B
公开(公告)日：2015-09-09
申请号：CN201210516105.3
申请日：2012-12-06
Applicant: 国家无线电监测中心检测中心 , 天维讯达无线电设备检测(北京)有限责任公司
IPC: H04B17/00
Abstract: 一种基于PXI总线构架的射频测试单元，主要包括一个嵌入式图形控制处理器S3C2440、PXI总线、6级同轴开关、第一高通滤波器、第二高通滤波器、低通滤波器、第一陷波器、第二陷波器、第三陷波器、第一放大器和第二放大器组成，该PXI总线构架的射频测试单元克服了在射频终端设备进行测试过程中，不同测试项目需要不同信号处理路径的问题，可将所有核准辐射骚扰及辐射杂散指标的测试链路进行系统集成，避免了手动测试带来的误差，提高了测试准确度和测试效率。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN103051392B
公开(公告)日：2015-07-01
申请号：CN201210500715.4
申请日：2012-11-29
Applicant: 国家无线电监测中心检测中心 , 天维讯达无线电设备检测(北京)有限责任公司
IPC: H04B17/00
Abstract: 本发明实施例提供了一种对专网无线通信终端进行互调干扰测试的方法和装置。该方法主要包括：根据专网无线通信终端的互调干扰测试的测试规范要求，通过同轴开关从环形器组中选择接通一个环形器，和/或；通过同轴开关从衰减器组中选择接通一个衰减器；环形器组连接衰减器组，环形器组接收输入的专网无线通信终端的被测信号，利用接通的环形器和/或衰减器对被测信号进行处理，衰减器组输出经过处理后的被测信号。本发明实施例克服了在专网无线通信终端进行互调干扰测试过程中，针对不同测试规范需要人工分别搭建不同测试链路的问题，实现了专网无线通信终端的所有型号核准辐射骚扰及辐射杂散指标的测试链路的系统集成。
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公开(公告)号：CN102546057B
公开(公告)日：2014-04-16
申请号：CN201110453028.7
申请日：2011-12-30
Applicant: 国家无线电监测中心检测中心 , 天维讯达无线电设备检测(北京)有限责任公司
IPC: H04B17/00
Abstract: 本发明涉及一种手机的全向辐射功率同步测量系统，属于无线通信产品的射频测试技术领域。首先，在高电导率金属构成的屏蔽室内放置并同步旋转三组金属反射体，形成过模谐振的工作状态；然后，通过校准获取各测试频率所对应的换算因子；接下来，利用综测仪模拟基站与待测手机建立连接，设定测试频率并将手机置于最大功率发射的状态；然后，利用步进电机驱动反射体旋转，记录反射体在每个位置时的接收功率，形成测试结果序列；最后，选取上述测试结果序列的中值，结合校准因子换算得到全向辐射功率(TRP)。本发明提出的测试系统具有费用低，占地小，维护简单等优点。
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公开(公告)号：CN103067097A
公开(公告)日：2013-04-24
申请号：CN201210501181.7
申请日：2012-11-29
Applicant: 国家无线电监测中心检测中心 , 天维讯达无线电设备检测(北京)有限责任公司
IPC: H04B17/00
Abstract: 本发明实施例提供了一种对无线通信终端进行型号核准辐射骚扰测试的方法和装置。该方法主要包括：根据无线通信终端的型号核准辐射骚扰测试的测试规范要求，通过同轴开关从滤波器组中选择接通一个滤波器，和/或；通过同轴开关从陷波器组中选择接通一个陷波器；和/或，通过同轴开关从放大器组中选择接通一个放大器，被测信号依次经过滤波器组、陷波器组和放大器组。本发明实施例克服了在无线通信终端进行型号核准辐射骚扰测试过程中，针对不同测试规范需要人工分别搭建不同测试链路的问题，实现了无线通信终端的所有型号核准辐射骚扰及辐射杂散指标的测试链路的系统集成。
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公开(公告)号：CN102571235A
公开(公告)日：2012-07-11
申请号：CN201110453068.1
申请日：2011-12-30
Applicant: 国家无线电监测中心检测中心 , 天维讯达无线电设备检测(北京)有限责任公司
IPC: H04B17/00
Abstract: 本发明涉及一种手机的全向辐射功率异步测量方法，属于无线通信产品的射频测试技术领域。首先，在高电导率金属构成的屏蔽室内放置并分别旋转三组金属反射体，形成过模谐振的工作状态；然后，通过校准获取各测试频率所对应的换算因子；接下来，利用综测仪模拟基站与待测手机建立连接，设定测试频率并将手机置于最大功率发射的状态；然后，利用步进电机分别驱动反射体旋转，记录反射体在每个位置时，接收天线所接收的功率，形成测试结果序列；最后，选取上述测试结果序列的中值，结合校准因子换算得到全向辐射功率(TRP)。本发明提出的测量方法能够精确地测量手机的全向辐射功率，且具有费用低，占地小，维护简单等优点。
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公开(公告)号：CN103067097B
公开(公告)日：2016-01-20
申请号：CN201210501181.7
申请日：2012-11-29
Applicant: 国家无线电监测中心检测中心 , 天维讯达无线电设备检测(北京)有限责任公司
IPC: H04B17/00
Abstract: 本发明实施例提供了一种对无线通信终端进行型号核准辐射骚扰测试的方法和装置。该方法主要包括：根据无线通信终端的型号核准辐射骚扰测试的测试规范要求，通过同轴开关从滤波器组中选择接通一个滤波器，和/或；通过同轴开关从陷波器组中选择接通一个陷波器；和/或，通过同轴开关从放大器组中选择接通一个放大器，被测信号依次经过滤波器组、陷波器组和放大器组。本发明实施例克服了在无线通信终端进行型号核准辐射骚扰测试过程中，针对不同测试规范需要人工分别搭建不同测试链路的问题，实现了无线通信终端的所有型号核准辐射骚扰及辐射杂散指标的测试链路的系统集成。
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