一种用于IOT的射频链路切换装置及测试方法

    公开(公告)号:CN104579509A

    公开(公告)日:2015-04-29

    申请号:CN201410767531.3

    申请日:2014-12-11

    Abstract: 本发明公开了一种用于IOT的射频链路切换装置及测试方法。该装置包括至少一个被测设备接口和多个基站接口,所述基站接口分别通过同轴开关和衰减器与所述被测设备接口连接,所述衰减器包括至少一个可调衰减器。将各同轴开关置于关的位置;将被测设备连接到被测设备接口,将多个基站分别连接到各基站接口;使要测试的基站与被测设备之间的链路接通;调整各基站与被测设备之间链接上的可调衰减器,模拟出基站与被测设备之间信号强度的变化,使被测设备在各基站之间切换,完成IOT测试。本发明提高了测试准确度和测试效率,且实现简单、操作方便、成本低,而且还能对测试仪表进行必要的保护,避免因过热射频功率、直流瞬时和静电放电(ESD)而受到损坏。

    用于型号核准LTE终端测试的射频链路切换装置

    公开(公告)号:CN103746759A

    公开(公告)日:2014-04-23

    申请号:CN201410015270.X

    申请日:2014-01-13

    Abstract: 本发明公开了一种用于型号核准LTE终端测试的射频链路切换装置,其中包括:一号箱,其用于测试指标的功能性链路搭建,其中包括至少一个同轴开关,衰减器,功分器,环形器,单向器以及阻抗匹配电阻;二号箱,其用于对信号进行滤波和衰减处理;其中信号经由所述一号箱的相关链路处理后,进入所述二号箱,根据测试指标和测试项的不同要求,选择相应的滤波器和衰减器进行滤波和衰减处理,再将处理过后的所述信号返回到所述一号箱继续进行链路传播。本发明所公开的射频链路切换装置能够将所有型号核准终端指标的测试链路进行系统集成,提高测试准确度和测试效率的同时保护仪表不受损,并且增强了对未来型号核准LTE终端测试的可扩展性。

    一种用于IOT的射频链路切换装置及测试方法

    公开(公告)号:CN104579509B

    公开(公告)日:2018-04-03

    申请号:CN201410767531.3

    申请日:2014-12-11

    Abstract: 本发明公开了一种用于IOT的射频链路切换装置及测试方法。该装置包括至少一个被测设备接口和多个基站接口,所述基站接口分别通过同轴开关和衰减器与所述被测设备接口连接,所述衰减器包括至少一个可调衰减器。将各同轴开关置于关的位置;将被测设备连接到被测设备接口,将多个基站分别连接到各基站接口;使要测试的基站与被测设备之间的链路接通;调整各基站与被测设备之间链接上的可调衰减器,模拟出基站与被测设备之间信号强度的变化,使被测设备在各基站之间切换,完成IOT测试。本发明提高了测试准确度和测试效率,且实现简单、操作方便、成本低,而且还能对测试仪表进行必要的保护,避免因过热射频功率、直流瞬时和静电放电(ESD)而受到损坏。

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