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公开(公告)号:CN105844593B
公开(公告)日:2019-01-18
申请号:CN201610047496.7
申请日:2016-01-25
Applicant: 哈尔滨理工大学
IPC: G06T5/00
Abstract: 本发明针对干涉图像的预处理,通过改进的去噪方法、二值化算法、细化及修补算法,提出一种单幅干涉圆条纹图像预处理的自动化处理方法。本发明利用在P‑M模型上引入扩散系数,修改中值滤波窗口,然后采用加权方式将两者结合形成去噪方法,该方法对图像边缘和细节保护明显。本发明采用的细化修补算法不但可以去除图像中的毛刺,而且在保证图像连通性的前提下去除多余二像素,从而使图像细化成单像素图像。本发明对单幅干涉圆条纹进行特征信息提取具有重要意义,可为基于单幅干涉圆条纹分析的光学测量技术的应用提供可靠地分析方法。
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公开(公告)号:CN105844593A
公开(公告)日:2016-08-10
申请号:CN201610047496.7
申请日:2016-01-25
Applicant: 哈尔滨理工大学
IPC: G06T5/00
CPC classification number: G06T5/002 , G06T5/005 , G06T2207/20032
Abstract: 本发明针对干涉图像的预处理,通过改进的去噪方法、二值化算法、细化及修补算法,提出一种单幅干涉圆条纹图像预处理的自动化处理方法。本发明利用在P?M模型上引入扩散系数,修改中值滤波窗口,然后采用加权方式将两者结合形成去噪方法,该方法对图像边缘和细节保护明显。本发明采用的细化修补算法不但可以去除图像中的毛刺,而且在保证图像连通性的前提下去除多余二像素,从而使图像细化成单像素图像。本发明对单幅干涉圆条纹进行特征信息提取具有重要意义,可为基于单幅干涉圆条纹分析的光学测量技术的应用提供可靠地分析方法。
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公开(公告)号:CN204228123U
公开(公告)日:2015-03-25
申请号:CN201420786016.5
申请日:2014-12-12
Applicant: 哈尔滨理工大学
Abstract: 基于偏振光散射法检测工件表面综合性能参数的装置,属于光学检测领域,本实用新型为解决现有加工工件表面性能检测装置只能检测单一特征参数,不能准确、快速、简便地检测综合性能参数的问题。本实用新型激光入射至分光镜分光,水平激光通过扩束器、起偏器和反光镜入射至工件表面,反射后入射至电荷耦合阵列检测器;垂直激光通过扩束器、起偏器和分光镜分为水平激光和垂直激光;水平激光通过透镜入射至电荷耦合阵列检测器;垂直激光通过偏振分光镜分为水平S光和垂直P光;水平S光通过反光镜和透镜入射至工件表面,反射后入射至光电二极管阵列;垂直P光通过透镜入射至工件表面,反射后入射至光电二极管阵列。用于检测加工工件表面综合特征参数。
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公开(公告)号:CN205642317U
公开(公告)日:2016-10-12
申请号:CN201620414854.9
申请日:2016-05-10
Applicant: 哈尔滨理工大学
IPC: G01B11/30
Abstract: 基于散射法测量冷作模具钢表面粗糙度的装置,属于光学检测领域,本实用新型为了解决我国当前特殊钢厂的质量控制、质量检测手段落后,缺乏在线质量检验设备,产品的表面质量检测精度不高的问题。测量装置包括He‑Ne激光器、准直器、隔离器、起偏器、第一分束器、第二分束器、第一扩束装置、第二扩束装置、第一反射镜、第二反射镜、第三反射镜、第一检偏器、第二检偏器、第一会聚透镜、第二会聚透镜、第三会聚透镜、第一光强探测器、第二光强探测器、第三光强探测器;本实用新型具有非接触性、装置简单、快速测量、成本低等优点,用于检测冷作模具钢的表面综合性能参数。
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公开(公告)号:CN205537546U
公开(公告)日:2016-08-31
申请号:CN201521006469.2
申请日:2015-12-08
Applicant: 哈尔滨理工大学
Abstract: 基于PSD和楔形平晶微分干涉法的晶圆表面检测装置,属于光学检测领域,本实用新型为解决现有精密晶圆检测仪器精度不够高、检测步骤繁琐、耗时的问题。本实用新型是激光通过空间滤波器、会聚透镜、偏振片入射至分束器分为垂直方向的光和水平方向的光:垂直方向的光通过反射镜、会聚透镜入射至晶圆样品,反射光通过1/4波片、楔形平晶光被PSD1、PSD2接收;水平方向的光入射至分束器分为垂直S光和水平P光:垂直S光通过楔形平晶、显微物镜,入射至晶圆样品表面反射,反射光通过显微物镜、楔形平晶,入射至分束器分为垂直S光和水平P光:垂直S光通过1/4波片、检偏器、滤光器被CMOS图像传感器接收。用于检测晶圆表面缺陷。
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公开(公告)号:CN205281520U
公开(公告)日:2016-06-01
申请号:CN201521011862.0
申请日:2015-12-09
Applicant: 哈尔滨理工大学
IPC: G06K9/00
Abstract: 基于楔形导光板的傅里叶变换联合相关指纹识别装置,涉及利用基于楔形导光板的傅里叶变换联合相关法进行指纹识别的装置,属于光学检测领域,本实用新型为解决现有光学指纹识别系统精度较低,速度较慢等问题。本实用新型包括He-Ne激光器、针孔滤波器、第一五比五分光镜、第二五比五分光镜、第一反光镜、第二反光镜、第一扩束镜、第二扩束镜、楔形导光板、起偏器、液晶光阀、检偏器、傅里叶透镜、干板、电荷耦合阵列检测器和计算机。本实用新型用于实时的指纹识别。
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公开(公告)号:CN204479018U
公开(公告)日:2015-07-15
申请号:CN201520223545.9
申请日:2015-04-14
Applicant: 哈尔滨理工大学
Abstract: 基于子孔径拼接法与计算全息法的非球面干涉检测装置,涉及利用子孔径拼接法与计算全息法获取非球面光学元件表面粗糙度的装置,属于光学检测领域,本实用新型为解决现有干涉法测量非球面光学元件时精度较低、速度较慢、耗时长的问题。本实用新型包括He-Ne激光器、第一反光镜、第二反光镜、第三反光镜、准直器、扩束镜、第一准直透镜、第二准直透镜、第三准直透镜、分光镜、非球面光学元件、步进电机、起偏器、液晶光阀、计算机、液晶光阀驱动电路、检偏器和CCD;非球面光学元件的下方架设有步进电机,通过步进电机的转动完成对非球面光学元件口径的全部测量。本实用新型用于检测非球面光学元件的表面粗糙度。
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