一种使用双路信号的荧光寿命测温方法

    公开(公告)号:CN116046203A

    公开(公告)日:2023-05-02

    申请号:CN202310012981.0

    申请日:2023-01-05

    Abstract: 本发明公开了一种使用双路信号的荧光寿命测温方法,利用稀土离子双掺杂纳米荧光材料制备的测温探头探测温度,纳米荧光材料中掺杂离子1激发态能量高于掺杂离子2,掺杂离子1荧光寿命随温度升高而缩短,掺杂离子2荧光寿命随温度升高而延长,将掺杂离子1和掺杂离子2荧光寿命比值随温度变化拟合曲线作为测温探头标定曲线,根据理论测温灵敏度曲线确定探头测温工作范围,利用标定曲线对应的拟合公式根据实测荧光寿命比值反推得到探测温度。本发明不依赖于探头在待测物内部的渗透深度,可用于材料表面测温,还适用于材料内部复杂环境温度监测,可以灵活设计稀土离子掺杂系统,选取采集信号对应的荧光波段,无需添加硬件,成本低廉,操作便捷。

Patent Agency Ranking