一种校准多波束声呐测深和分辨率的装置

    公开(公告)号:CN107703501A

    公开(公告)日:2018-02-16

    申请号:CN201710894388.8

    申请日:2017-09-28

    CPC classification number: G01S7/52004 G01S15/08 G01S15/88 G01S2007/52012

    Abstract: 本发明提供的是一种校准多波束声呐测深和分辨率的装置。包括基架、标准反射体、探照灯、摄录设备、深度移动机构、水平移动机构,基架底部由中空圆形管制成,基架侧面由中空方形管制成,管表面敷设声学覆盖层和尖劈,基架顶部由中空方形管制成,基架顶部的两侧有龙骨,龙骨外侧有支撑调节机构,标准反射体由立方体钢箱、钢板和底质目标箱组成,探照灯安装在基架侧面,摄录设备可随水平移动机构进行运动,深度移动机构安装在水平移动机构内,水平移动机构可带动多波束声呐进行上下和前后扫描,整个装置放置在消声水池中,在良好的消声环境中,利用光学成像的结果去标定多波束声呐的测深和分辨率能力,为多波束声呐的实际使用提供一张“合格证”。

    一种测量声学覆盖层高频法向反射系数的装置及方法

    公开(公告)号:CN108519431B

    公开(公告)日:2020-09-11

    申请号:CN201810234636.0

    申请日:2018-03-21

    Abstract: 本发明提供一种测量声学覆盖层高频法向反射系数的装置及方法,装置包括加压泵、罐体、吸声尖劈、支架、第一扫描机构、第二扫描机构,罐体为圆柱形,罐体的一端为球形封头,另一端为敞口,罐体的顶部有椭球形封头,吸声尖劈由不同直径的橡胶球串联而成,声学覆盖层安装在支架上,支架安装在罐体的敞口处,第一扫描机构安装在罐体内,第二扫描机构安装在罐体内;一种测量声学覆盖层高频法向反射系数的装置及方法,还包括测量方法;本发明提供了声学覆盖层高频法向反射系数的测量装置及测量方法,避免了常规测量方法中存在的球面波与声学覆盖层表面之间存在夹角而带来的较大误差问题。

    一种校准多波束声呐测深和分辨率的装置

    公开(公告)号:CN107703501B

    公开(公告)日:2021-06-11

    申请号:CN201710894388.8

    申请日:2017-09-28

    Abstract: 本发明提供的是一种校准多波束声呐测深和分辨率的装置。包括基架、标准反射体、探照灯、摄录设备、深度移动机构、水平移动机构,基架底部由中空圆形管制成,基架侧面由中空方形管制成,管表面敷设声学覆盖层和尖劈,基架顶部由中空方形管制成,基架顶部的两侧有龙骨,龙骨外侧有支撑调节机构,标准反射体由立方体钢箱、钢板和底质目标箱组成,探照灯安装在基架侧面,摄录设备可随水平移动机构进行运动,深度移动机构安装在水平移动机构内,水平移动机构可带动多波束声呐进行上下和前后扫描,整个装置放置在消声水池中,在良好的消声环境中,利用光学成像的结果去标定多波束声呐的测深和分辨率能力,为多波束声呐的实际使用提供一张“合格证”。

    一种测量声学覆盖层高频法向反射系数的装置及方法

    公开(公告)号:CN108519431A

    公开(公告)日:2018-09-11

    申请号:CN201810234636.0

    申请日:2018-03-21

    Abstract: 本发明提供一种测量声学覆盖层高频法向反射系数的装置及方法,装置包括加压泵、罐体、吸声尖劈、支架、第一扫描机构、第二扫描机构,罐体为圆柱形,罐体的一端为球形封头,另一端为敞口,罐体的顶部有椭球形封头,吸声尖劈由不同直径的橡胶球串联而成,声学覆盖层安装在支架上,支架安装在罐体的敞口处,第一扫描机构安装在罐体内,第二扫描机构安装在罐体内;一种测量声学覆盖层高频法向反射系数的装置及方法,还包括测量方法;本发明提供了声学覆盖层高频法向反射系数的测量装置及测量方法,避免了常规测量方法中存在的球面波与声学覆盖层表面之间存在夹角而带来的较大误差问题。

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