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公开(公告)号：CN113347376B
公开(公告)日：2023-03-24
申请号：CN202110581162.9
申请日：2021-05-27
Applicant: 哈尔滨工程大学
Abstract: 本发明属于电子元器件测试技术领域，具体为一种新的具有标定思想的方法，对像素串扰进行了测量计算的方法。本发明包括：对3*3像素阵进行多组曝光实验，利用函数关系式：得到中心像素与相邻像素的耦合关系系数ak，并按照给出的函数关系式：求出任意曝光条件下，某点的理想灰度值。本发明提供了一种新的具有标定性思想的方法，对像素串扰进行了测量计算，提供了一种像素串扰处理的新思路。
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公开(公告)号：CN113242393A
公开(公告)日：2021-08-10
申请号：CN202110581152.5
申请日：2021-05-27
Applicant: 哈尔滨工程大学
IPC: H04N5/359
Abstract: 本发明提供一种二维微小光斑阵列发生装置，包括控制电路、LED阵列、光纤阵列和适配板；所述控制电路分别控制每个LED的发光强度，并具有数字通信接口；每个LED与一根光纤耦合，光纤输出端分别插入二维阵微孔的适配板上，光纤的出光端穿过二维孔阵适配板，且每个光纤的出光面与适配板地面在同一个平面上，形成点光源阵，点光源阵通过凸透镜成像得到二维微小光斑阵，所述控制电路包括电源模块、控制模块和通信模块。本发明可以精确对每一个光斑进行精准控制；通过光纤导光以及透镜组组成的光路可以将光斑精准照射到单独的像素上。
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公开(公告)号：CN113347376A
公开(公告)日：2021-09-03
申请号：CN202110581162.9
申请日：2021-05-27
Applicant: 哈尔滨工程大学
Abstract: 本发明属于电子元器件测试技术领域，具体为一种新的具有标定思想的方法，对像素串扰进行了测量计算的方法。本发明包括：对3*3像素阵进行多组曝光实验，利用函数关系式：得到中心像素与相邻像素的耦合关系系数ak，并按照给出的函数关系式：求出任意曝光条件下，某点的理想灰度值。本发明提供了一种新的具有标定性思想的方法，对像素串扰进行了测量计算，提供了一种像素串扰处理的新思路。
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公开(公告)号：CN113242393B
公开(公告)日：2023-04-18
申请号：CN202110581152.5
申请日：2021-05-27
Applicant: 哈尔滨工程大学
IPC: H04N25/62
Abstract: 本发明提供一种二维微小光斑阵列发生装置，包括控制电路、LED阵列、光纤阵列和适配板；所述控制电路分别控制每个LED的发光强度，并具有数字通信接口；每个LED与一根光纤耦合，光纤输出端分别插入二维阵微孔的适配板上，光纤的出光端穿过二维孔阵适配板，且每个光纤的出光面与适配板地面在同一个平面上，形成点光源阵，点光源阵通过凸透镜成像得到二维微小光斑阵，所述控制电路包括电源模块、控制模块和通信模块。本发明可以精确对每一个光斑进行精准控制；通过光纤导光以及透镜组组成的光路可以将光斑精准照射到单独的像素上。
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