公开(公告)号：CN114577907B

公开(公告)日：2022-11-08

申请号：CN202111674214.3

申请日：2021-12-31

Applicant: 哈尔滨工业大学(深圳)

Inventor： 王迎 ,  袁琪

IPC: G01N29/14 ,  G01N29/06 ,  G01N29/44

Abstract: 本发明公开了一种曲面板构件损伤检测方法、系统及存储介质。本发明控制多晶片CLT波相控阵阵列的各激发阵元发射不同相位的信号，可以增强特定选择的单一CLT波模态幅值，实现CLT波束偏转和聚焦。通过各接收阵元获取的反射信号定位出曲面板损伤位置，达到检测效率高且耗费的人力成本少的目的。解决了目前对于曲面板构件的超声波检测采用逐点检测方法，费时费人工的问题。

公开(公告)号：CN114577907A

公开(公告)日：2022-06-03

申请号：CN202111674214.3

申请日：2021-12-31

Applicant: 哈尔滨工业大学(深圳)

Inventor： 王迎 ,  袁琪

IPC: G01N29/14 ,  G01N29/06 ,  G01N29/44

Abstract: 本发明公开了一种曲面板构件损伤检测方法、系统及存储介质。本发明控制多晶片CLT波相控阵阵列的各激发阵元发射不同相位的信号，可以增强特定选择的单一CLT波模态幅值，实现CLT波束偏转和聚焦。通过各接收阵元获取的反射信号定位出曲面板损伤位置，达到检测效率高且耗费的人力成本少的目的。解决了目前对于曲面板构件的超声波检测采用逐点检测方法，费时费人工的问题。