公开(公告)号：CN115166397B

公开(公告)日：2024-09-24

申请号：CN202210808728.1

申请日：2022-07-11

Applicant: 哈尔滨工业大学(深圳)

Inventor： 王嘉威 ,  孙晟祺 ,  孙云旭 ,  耿子涵

IPC: G01R31/00 ,  G01H17/00

Abstract: 本发明提供了一种对于聚合物受环境影响下微观形态变化的检测系统及方法，检测系统包括激发光源、可调衰减片、物镜、相机、位移平台、腔室、二向色镜、光谱仪，腔室内装载有聚合物微结构和环境气体或液体分子，其中聚合物微结构可作为支持回音壁模式的光学谐振腔。本发明的有益效果是：本发明避免了常规技术中对薄膜式待测聚合物的质量、尺寸的要求，尤其适用于对具有较为规则的截面、支持回音壁模式的聚合物微结构的测量，可实现对扩散过程中亚微米级分辨率的灵敏监控。该发明具有广阔的实用性，可针对测量对象广阔，并具备多元化检测功能，实现对于溶解度、扩散速率及其他动力学参数以及环境分子浓度、分子成分等数据的数值测量。

公开(公告)号：CN115166397A

公开(公告)日：2022-10-11

申请号：CN202210808728.1

申请日：2022-07-11

Applicant: 哈尔滨工业大学(深圳)

Inventor： 王嘉威 ,  孙晟祺 ,  孙云旭 ,  耿子涵

IPC: G01R31/00 ,  G01H17/00

Abstract: 本发明提供了一种对于聚合物受环境影响下微观形态变化的检测系统及方法，检测系统包括激发光源、可调衰减片、物镜、相机、位移平台、腔室、二向色镜、光谱仪，腔室内装载有聚合物微结构和环境气体或液体分子，其中聚合物微结构可作为支持回音壁模式的光学谐振腔。本发明的有益效果是：本发明避免了常规技术中对薄膜式待测聚合物的质量、尺寸的要求，尤其适用于对具有较为规则的截面、支持回音壁模式的聚合物微结构的测量，可实现对扩散过程中亚微米级分辨率的灵敏监控。该发明具有广阔的实用性，可针对测量对象广阔，并具备多元化检测功能，实现对于溶解度、扩散速率及其他动力学参数以及环境分子浓度、分子成分等数据的数值测量。