一种基于深度几何特征谱的显微图像目标检测方法及系统

    公开(公告)号:CN110738254B

    公开(公告)日:2022-03-25

    申请号:CN201910977216.6

    申请日:2019-10-15

    Inventor: 张阳 江浩

    Abstract: 本发明公开了一种基于深度几何特征谱的显微图像目标检测方法及系统,所述方法包括:首先构建训练集,其次根据所述训练集训练得到带有参数的漏斗网络;再次将待检测的显微图像输入到带有参数的所述漏斗网络,输出待检测的显微图像对应的四张极值点热图和中心点热图;然后根据所述四张极值点热图和所述中心点热图确定待选检测目标和邻接特征谱;最后根据所述待选检测目标和所述邻接特征谱确定检测目标。本发明采用深度几何特征谱进行检测,提高检测目标的准确性。

    一种基于深度几何特征谱的显微图像目标检测方法及系统

    公开(公告)号:CN110738254A

    公开(公告)日:2020-01-31

    申请号:CN201910977216.6

    申请日:2019-10-15

    Inventor: 张阳 江浩

    Abstract: 本发明公开了一种基于深度几何特征谱的显微图像目标检测方法及系统,所述方法包括:首先构建训练集,其次根据所述训练集训练得到带有参数的漏斗网络;再次将待检测的显微图像输入到带有参数的所述漏斗网络,输出待检测的显微图像对应的四张极值点热图和中心点热图;然后根据所述四张极值点热图和所述中心点热图确定待选检测目标和邻接特征谱;最后根据所述待选检测目标和所述邻接特征谱确定检测目标。本发明采用深度几何特征谱进行检测,提高检测目标的准确性。

Patent Agency Ranking