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公开(公告)号:CN110212053B
公开(公告)日:2021-06-15
申请号:CN201910457128.3
申请日:2019-05-29
Applicant: 哈尔滨工业大学(深圳)
IPC: H01L31/101 , H01L31/0352 , H01L31/18
Abstract: 本发明提供了一种硅基叉指型光电探测器,其包括衬底、位于衬底上的叉指结构的硅波导和金属电极,所述硅波导包括n型掺杂区、n型掺杂的叉指、p型掺杂区、p型掺杂的叉指,所述n型掺杂的叉指、p型掺杂的叉指位于n型掺杂区和p型掺杂区之间,所述n型掺杂的叉指、p型掺杂的叉指交替排列;所述n型掺杂的叉指与同侧的n型掺杂区接触,与p型掺杂区之间留有间隙;所述p型掺杂的叉指与同侧的p型掺杂区接触,与n型掺杂区之间留有间隙;通过金属电极和处于波导两侧并与波导相接的n型掺杂区、p型掺杂区相连。本发明的技术方案,能够更高效地收集由于缺陷态吸收效应从缺陷态能级跃迁到导带的电子,形成更大的光电流,提高光电探测器的性能。
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公开(公告)号:CN110212053A
公开(公告)日:2019-09-06
申请号:CN201910457128.3
申请日:2019-05-29
Applicant: 哈尔滨工业大学(深圳)
IPC: H01L31/101 , H01L31/0352 , H01L31/18
Abstract: 本发明提供了一种硅基叉指型光电探测器,其包括衬底、位于衬底上的叉指结构的硅波导和金属电极,所述硅波导包括n型掺杂区、n型掺杂的叉指、p型掺杂区、p型掺杂的叉指,所述n型掺杂的叉指、p型掺杂的叉指位于n型掺杂区和p型掺杂区之间,所述n型掺杂的叉指、p型掺杂的叉指交替排列;所述n型掺杂的叉指与同侧的n型掺杂区接触,与p型掺杂区之间留有间隙;所述p型掺杂的叉指与同侧的p型掺杂区接触,与n型掺杂区之间留有间隙;通过金属电极和处于波导两侧并与波导相接的n型掺杂区、p型掺杂区相连。本发明的技术方案,能够更高效地收集由于缺陷态吸收效应从缺陷态能级跃迁到导带的电子,形成更大的光电流,提高光电探测器的性能。
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