一种电子元件焊点缺陷检测方法

    公开(公告)号:CN107992898A

    公开(公告)日:2018-05-04

    申请号:CN201711338999.0

    申请日:2017-12-14

    Abstract: 本发明提供一种电子元件焊点缺陷方法,结合基于混合高斯模型密度估计和极限学习机方法,利用不平衡的小样本可以精确地建模为混合高斯模型的原理,用混合高斯模型替代普通的高斯模型,并且利用密度估计方法计算和补偿不平衡数据带来的分类界限偏差,从而解决极限学习机应用于电子元件焊点缺陷检测时存在的不平衡数据分类问题,获得优于其他机器学习方法的更高的检测准确率。本发明可以广泛应用于工业生产中电子元件焊点的检测。

    一种电子元件焊点缺陷检测方法

    公开(公告)号:CN107992898B

    公开(公告)日:2019-07-23

    申请号:CN201711338999.0

    申请日:2017-12-14

    Abstract: 本发明提供一种电子元件焊点缺陷方法,结合基于混合高斯模型密度估计和极限学习机方法,利用不平衡的小样本可以精确地建模为混合高斯模型的原理,用混合高斯模型替代普通的高斯模型,并且利用密度估计方法计算和补偿不平衡数据带来的分类界限偏差,从而解决极限学习机应用于电子元件焊点缺陷检测时存在的不平衡数据分类问题,获得优于其他机器学习方法的更高的检测准确率。本发明可以广泛应用于工业生产中电子元件焊点的检测。

Patent Agency Ranking