公开(公告)号：CN111538655B

公开(公告)日：2023-09-22

申请号：CN202010276212.8

申请日：2020-04-09

Applicant: 哈尔滨工业大学(威海)

Inventor： 张策 ,  王金勇 ,  吕为工 ,  盛晟 ,  苏嘉尧 ,  江文倩 ,  徐早辉 ,  孙源 ,  袁雨飞 ,  高天翼 ,  邱忠银 ,  白睿 ,  王瞰宇

IPC: G06F11/36

Abstract: 本发明属于软件测试技术领域，公开了一种软件故障检测方法、系统、存储介质、计算机程序、终端，统一的故障检测与修复框架模型；故障检测率下考虑故障检测、修复与引入的不完美排错框架模型；所获得的统一的两类不完美排错框架模型，在初始条件下，被设定五种形式，继而分别求得五种情况累积故障检测函数。本发明提出统一的故障检测模型，建立可用于实施FDR研究的单一微分方程，进而建立涵盖故障检测、修复与引入的测试模型，建立可实施FDR研究的微分方程组。通过FDR支持下的这两类可靠性模型的性能，为区分不同FDR性能带来可能，并验证了建立含有丰富测试信息的可靠性模型对于提高可靠性的重要性。

公开(公告)号：CN110008122B

公开(公告)日：2022-09-06

申请号：CN201910220738.1

申请日：2019-03-22

Applicant: 哈尔滨工业大学(威海)

Inventor： 张策 ,  王金勇 ,  吕为工 ,  盛晟 ,  白睿 ,  袁雨飞 ,  苏嘉尧 ,  邱忠银 ,  高天翼 ,  徐早辉 ,  孙源 ,  王瞰宇 ,  丁烨

IPC: G06F11/36

Abstract: 本发明的目的在于提供一种考虑测试工作量与变动点下的模型建立方法，本发明明确考虑到测试工作量TE(testing effort)与变动点CPs(change‑points)。首先给出了考虑TE下的不完美排错时的软件测试过程建模，在此基础之上，将不完美排错的研究范围进一步扩大，分析了考虑存在CPs时的软件测试，建立了更一般性不完美排错下的软件可靠性增长模型框架。本发明的有益效果是有效地建立软件测试过程中的可靠性增长模型，更加准确地描述不完美排错情况。

公开(公告)号：CN111538654A

公开(公告)日：2020-08-14

申请号：CN202010275488.4

申请日：2020-04-09

Applicant: 哈尔滨工业大学(威海)

Inventor： 张策 ,  王金勇 ,  吕为工 ,  邱忠银 ,  高天翼 ,  江文倩 ,  袁雨飞 ,  徐早辉 ,  孙源 ,  盛晟 ,  苏嘉尧 ,  白睿 ,  王瞰宇

IPC: G06F11/36

Abstract: 本发明属于软件测试技术领域，公开了一种软件可靠性测试方法、系统、存储介质、计算机程序，建立了基于故障检测率函数、故障修复函数和新故障引入函数的故障检测、修复与引入模型，对模型进行求解；求解得到统一的测试覆盖函数下考虑故障不完全修复与引入新故障的不完美测试模型；求得软件中总故障数量和累积修复的故障数量；完成了测试覆盖函数下考虑故障不完全修复与引入新故障的不完美测试框架模型的构建，得到了表示截止时刻累积检测到和修复的故障数量，软件中总的故障数量。本发明提出一种全面考虑不完美排错的软件可靠性过程分析方法，并明确考虑到测试覆盖，所提出的模型能够更加准确地描述软件测试过程。

公开(公告)号：CN111538654B

公开(公告)日：2024-02-13

申请号：CN202010275488.4

申请日：2020-04-09

Applicant: 哈尔滨工业大学(威海)

Inventor： 张策 ,  王金勇 ,  吕为工 ,  邱忠银 ,  高天翼 ,  江文倩 ,  袁雨飞 ,  徐早辉 ,  孙源 ,  盛晟 ,  苏嘉尧 ,  白睿 ,  王瞰宇

IPC: G06F11/36

Abstract: 本发明属于软件测试技术领域，公开了一种软件可靠性测试方法、系统、存储介质、计算机程序，建立了基于故障检测率函数、故障修复函数和新故障引入函数的故障检测、修复与引入模型，对模型进行求解；求解得到统一的测试覆盖函数下考虑故障不完全修复与引入新故障的不完美测试模型；求得软件中总故障数量和累积修复的故障数量；完成了测试覆盖函数下考虑故障不完全修复与引入新故障的不完美测试框架模型的构建，得到了表示截止时刻累积检测到和修复的故障数量，软件中总的故障数量。本发明提出一种全面考虑不完美排错的软件可靠性过程分析方法，并明确考虑到测试覆盖，所提出的模型能够更加准确地描述软件测试过程。

公开(公告)号：CN111538655A

公开(公告)日：2020-08-14

申请号：CN202010276212.8

申请日：2020-04-09

Applicant: 哈尔滨工业大学(威海)

Inventor： 张策 ,  王金勇 ,  吕为工 ,  盛晟 ,  苏嘉尧 ,  江文倩 ,  徐早辉 ,  孙源 ,  袁雨飞 ,  高天翼 ,  邱忠银 ,  白睿 ,  王瞰宇

IPC: G06F11/36

Abstract: 本发明属于软件测试技术领域，公开了一种软件故障检测方法、系统、存储介质、计算机程序、终端，统一的故障检测与修复框架模型；故障检测率下考虑故障检测、修复与引入的不完美排错框架模型；所获得的统一的两类不完美排错框架模型，在初始条件下，被设定五种形式，继而分别求得五种情况累积故障检测函数。本发明提出统一的故障检测模型，建立可用于实施FDR研究的单一微分方程，进而建立涵盖故障检测、修复与引入的测试模型，建立可实施FDR研究的微分方程组。通过FDR支持下的这两类可靠性模型的性能，为区分不同FDR性能带来可能，并验证了建立含有丰富测试信息的可靠性模型对于提高可靠性的重要性。

公开(公告)号：CN110008122A

公开(公告)日：2019-07-12

申请号：CN201910220738.1

申请日：2019-03-22

Applicant: 哈尔滨工业大学(威海)

Inventor： 张策 ,  王金勇 ,  吕为工 ,  盛晟 ,  白睿 ,  袁雨飞 ,  苏嘉尧 ,  邱忠银 ,  高天翼 ,  徐早辉 ,  孙源 ,  王瞰宇 ,  丁烨

IPC: G06F11/36

Abstract: 本发明的目的在于提供一种考虑TE与CP下的一般性不完美排错模型，本发明明确考虑到测试工作量TE(testing effort)与变动点CPs(change-points)。首先给出了考虑TE下的不完美排错时的软件测试过程建模，在此基础之上，将不完美排错的研究范围进一步扩大，分析了考虑存在CPs时的软件测试，建立了更一般性不完美排错下的软件可靠性增长模型框架。本发明的有益效果是有效地建立软件测试过程中的可靠性增长模型，更加准确地描述不完美排错情况。