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公开(公告)号：CN116402874A
公开(公告)日：2023-07-07
申请号：CN202310393175.2
申请日：2023-04-13
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G06T7/521 , G06T7/593 , G06T17/00 , G06T7/11 , G06T7/194 , G06N3/0442 , G06N3/0464
Abstract: 一种基于时序光学图像与激光雷达数据的航天器深度补全方法，属于空间目标三维结构感知技术领域。本发明针对现有单帧目标深度补全方法忽略了连续帧的时间相关信息，导致目标时序深度补全结果不一致的问题。包括基于空间目标三维模型仿真获得单目可见光相机的目标灰度图像时序序列和激光雷达的稀疏深度图像时序序列，并生成图像的目标稠密深度地面标签；采用目标灰度图像时序序列和稀疏深度图像时序序列作为样本训练时序航天器深度补全神经网络模型，得到训练后时序航天器深度补全神经网络模型并嵌入至星载平台，基于单目可见光相机和激光雷达采集的实时传感数据实现空间目标稠密深度的预测。本发明用于航天器探测的深度补全。
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公开(公告)号：CN110906926B
公开(公告)日：2023-04-14
申请号：CN201911216095.X
申请日：2019-12-02
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G01C21/02
Abstract: 近地空间全天时高精度SWIR恒星敏感系统及方法，属于星敏感器技术领域，解决了星敏感器在近地空间应用时所面临的输出精度低、探测能力弱的问题。系统包括线性偏振片、线性偏振片旋转组件、平面反射镜、平面反射镜调整组件、光学系统、相机、光谱滤波片、存储器、处理器、时间单元以及控制单元。根据太阳白天或月亮夜晚高度角及方位角，控制平面反射镜摆动，保证太阳白天或月亮夜晚不出现在恒星敏感系统的视场内以及平面反射镜的镜面内，然后计算系统光轴指向下的天空背景偏振方向，使得线性偏振片的透光方向与天空背景偏振方向垂直，获取恒星图像，输出姿态信息。有益效果为：抑制了强天空背景光，提高了系统探测精度以及提升了系统探测能力。
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公开(公告)号：CN109596146B
公开(公告)日：2022-07-05
申请号：CN201811591606.1
申请日：2018-12-25
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G01C25/00
Abstract: 本发明的一种星敏感器性能外场测试系统，目的是为了满足星敏感器性能外场测试的需要，包括星敏感器旋转装置和光源系统；星敏感器旋转装置包括旋转台支架和旋转台；旋转台支架用于支撑旋转台，该旋转台支架通过旋转台的转轴与旋转台转动配合；旋转台背离旋转台支架的一侧固定有星敏感器；光源系统的出射光束入射至星敏感器的遮光罩入光口，且光源系统的出射光束的中轴线与旋转台的转轴垂直；星敏感器旋转装置带动星敏感器在背景光入射天顶角的范围内旋转，使得星敏感器的视场始终指向真实星空。本发明提供了满足星敏感器在一定范围内相对于背景光照具有不同测试角度的外场性能测试需求。
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公开(公告)号：CN109141404B
公开(公告)日：2021-09-17
申请号：CN201810928190.1
申请日：2018-08-14
Applicant: 哈尔滨工业大学
Abstract: 开口大小可调的星敏感器周围球形杂光抑制系统，属于杂光抑制技术领域，为解决现有技术无法解决由光源出射光束照射至星敏感器表面产生的测试背景区域有杂光污染的问题。包括球形杂光抑制结构、电动可变光阑、圆环式电控旋转底座、二维电控旋转平台和光学测试平台；光源出射光束直射至星敏感器遮光罩入口处，星敏感器遮光罩由二维电控旋转平台带动旋转，二维电控旋转平台安装在光学测试平台上方，球形杂光抑制结构由圆环式电控旋转底座带动旋转，星敏感器遮光罩与球形杂光抑制结构同步旋转；电动可变光阑安装在球形杂光抑制结构的开口处，通过调整电动可变光阑开口的大小改变球形杂光抑制结构开口的大小。本发明用于星敏感期的地面验证实验。
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公开(公告)号：CN108917795B
公开(公告)日：2021-05-07
申请号：CN201810896527.5
申请日：2018-08-08
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G01C25/00
Abstract: 面向星敏感器地面测试与验证的杂光抑制系统，涉及杂光抑制技术领域。本发明是为了在星敏感器系统地面在轨测试与验证时，对环境中杂光进行抑制。本发明一次杂光抑制结构为顶端封闭、侧壁上设有开口的圆筒形，内表面均匀排布有多个圆锥消光结构，二次杂光抑制结构为弧形结构，二次杂光抑制结构的凹面均匀排布有多个圆锥消光结构，星敏感器位于一次杂光抑制结构内部，光源发出的不同角度的入射光经过一次杂光抑制结构的开口入射至星敏感器上，星敏感器的视场经一次杂光抑制结构的开口后指向二次杂光抑制结构的凹面，一次杂光抑制结构、二次杂光抑制结构和光源均位于光学暗室内。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN109459062A
公开(公告)日：2019-03-12
申请号：CN201811510961.1
申请日：2018-12-11
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G01C25/00
Abstract: 星敏感器外场观星系统，属于星敏感器外场观星技术领域，为了满足星敏感器性能的外场测试与评估的需求。本发明的光源系统、两个平面反射镜系统、星敏感器垂直起降系统和星敏感器均设置在观星站内；观星站开有天窗；光源系统为太阳模拟器，用于发射光束；第一平面反射镜系统用于对光束进行反射，形成反射光；第二平面反射镜系统用于折转反射光，将反射光以不同的天顶角入射到星敏感器；星敏感器垂直起降系统用于承载星敏感器，并保证不同型号的星敏感器的遮光罩入光口所在平面均处于同一水平高度；天窗用于作为模拟星敏感器外场性能测试时星敏感器视场指向真实星空。有益效果为避免了背景杂光的二次污染，测试效果理想，效率及可靠性高。
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公开(公告)号：CN108917794A
公开(公告)日：2018-11-30
申请号：CN201810892083.8
申请日：2018-08-07
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G01C25/00
Abstract: 面向星敏感器地面验证的测试背景区域杂光抑制系统，属于杂光抑制技术领域。解决了测试背景区域杂光抑制系统的杂光抑制能力差，影响星敏感器的姿态测量精度的问题。包括设置在光学暗室内的测试背景积分球、积分球底座、弧形导轨、星敏感器、二维电控旋转平台和光源；星敏感器作为被测试对象固定在二维电控旋转平台上，二维电控旋转平台用于带动星敏感器在水平面内转动；测试背景积分球固定在积分球底座上，积分球底座与弧形导轨滑动连接，积分球底座在驱动电机的驱动下，沿弧形导轨圆周运动；测试背景积分球与星敏感器同步运动，且测试背景积分球用于吸收星敏感器工作时其视场指向区域的背景杂光。
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公开(公告)号：CN117852283B
公开(公告)日：2024-07-19
申请号：CN202410034566.X
申请日：2024-01-09
Applicant: 哈尔滨工业大学
Abstract: 本发明涉及空间目标图像仿真技术领域，具体涉及一种复杂太空背景环境下的空间目标图像仿真方法及系统。本发明包括以下步骤：步骤1、利用光线跟踪获得空间目标自身在图像上的辐射能量分布；步骤2、利用星表计算恒星背景能量分布；步骤3、利用投影坐标变换、杂散光经验公式和贴图映射得到地球、月球和太阳背景图；步骤4、将前三个步骤的生成结果依照前后景分布顺序进行叠加获得预生成图像，并根据相机参数对预生成图像叠加传函和噪声，量化生成复杂太空背景环境下的空间目标仿真图像。通过上述技术方案，解决了现有空间目标仿真图像背景信息不全的问题，并提升了当前面向在轨应用的空间目标仿真图像的真实性。
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公开(公告)号：CN108982061B
公开(公告)日：2020-05-12
申请号：CN201810603452.7
申请日：2018-06-12
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G01M11/00
Abstract: 自动化点源透过率杂散光测试系统及方法，涉及杂散光测试技术领域，为了解决采用手动操作测试系统测量点源透过率，测量精度低、效率低的问题。脉冲激光器出射的激光经光束整形器整形后入射至平行光管，激光经平行光管准直后入射至旋转台上的待测光学系统；第一探测系统位于待测光学系统的入瞳处，且固定在平移机构上；第二探测系统位于待测光学系统的焦面处，且位于旋转台上；第一探测系统和第二探测系统均用于测量辐照度，信号采集系统采集测量结果并将测量结果发送给计算机；计算机用于接收测量结果并计算点源透过率，还用于控制平移机构、旋转台和信号采集系统实现点源透过率的自动化测量。本发明适用于测试点源透过率。
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公开(公告)号：CN108917795A
公开(公告)日：2018-11-30
申请号：CN201810896527.5
申请日：2018-08-08
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G01C25/00
Abstract: 面向星敏感器地面测试与验证的杂光抑制系统，涉及杂光抑制技术领域。本发明是为了在星敏感器系统地面在轨测试与验证时，对环境中杂光进行抑制。本发明一次杂光抑制结构为顶端封闭、侧壁上设有开口的圆筒形，内表面均匀排布有多个圆锥消光结构，二次杂光抑制结构为弧形结构，二次杂光抑制结构的凹面均匀排布有多个圆锥消光结构，星敏感器位于一次杂光抑制结构内部，光源发出的不同角度的入射光经过一次杂光抑制结构的开口入射至星敏感器上，星敏感器的视场经一次杂光抑制结构的开口后指向二次杂光抑制结构的凹面，一次杂光抑制结构、二次杂光抑制结构和光源均位于光学暗室内。
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