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公开(公告)号：CN116361633A
公开(公告)日：2023-06-30
申请号：CN202310377308.7
申请日：2023-04-11
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G06F18/213 , G01R31/00 , G06F18/25
Abstract: 本发明提供了一种智能故障检测方法、装置及存储介质，涉及电子设备技术领域，应用于复杂电子系统，其中方法包括：对测试目标施加激励信号以得到响应信号；将所述响应信号分段处理获得故障特征；将所述故障特征进行灰色关联处理得到状态指标；基于证据合成算法对所述状态指标进行融合处理得到检测指标；根据所述检测指标确定所述测试目标的检测结果。通过将激励信号层级划分，避免激励信号中不同层级之间的相互影响，提高了针对于复杂电子系统的诊断的准确性，并将多层信息复合处理成为融合的检测指标，减少了检测过程中针对测试目标的决策步骤，基于判断函数针对于单一检测指标的决策，加快了针对于复杂电子系统的检测速度。
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