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公开(公告)号：CN106225728B
公开(公告)日：2019-03-01
申请号：CN201610638878.7
申请日：2016-08-07
Applicant: 哈尔滨工业大学
Abstract: 本发明属于精密测量技术领域和光学工程领域，具体涉及阵列调零高精度大工作距自准直装置与方法；该装置由光源、准直镜、反射镜、以及反馈成像系统组成；该方法通过调整反射镜，使反射光束回到反馈成像系统像面中心，再利用反射镜上的角度偏转测量装置来得到被测物表面的角度变化；由于本发明在传统自准直角度测量系统上增加了反射镜，因此能够避免被测物反射光偏离测量系统而导致无法测量的问题，进而具有在相同工作距离下增加自准直工作范围，或在相同自准直工作范围下增加工作距离的技术优势；此外，准直镜、反馈成像系统、反射镜等的具体设计，使本发明还具有结构简单、制作成本低；尤其低采样频率下具有高测量精度；以及快速测量的技术优势。
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公开(公告)号：CN106225727A
公开(公告)日：2016-12-14
申请号：CN201610638877.2
申请日：2016-08-07
Applicant: 哈尔滨工业大学
CPC classification number: G01B11/26 , G01C15/002
Abstract: 本发明属于精密测量技术领域和光学工程领域，具体涉及阵列调零激光大工作距自准直装置与方法；该装置由光源、准直镜、反射镜、以及反馈成像系统组成；该方法通过调整反射镜，使反射光束回到反馈成像系统像面中心，再利用反射镜上的角度偏转测量装置来得到被测物表面的角度变化；由于本发明在传统自准直角度测量系统上增加了反射镜，因此能够避免被测物反射光偏离测量系统而导致无法测量的问题，进而具有在相同工作距离下增加自准直工作范围，或在相同自准直工作范围下增加工作距离的技术优势；此外，准直镜、反馈成像系统、反射镜等的具体设计，使本发明还具有结构简单、制作成本低；在不稳定测量环境下同样能够测量；以及快速测量的技术优势。
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公开(公告)号：CN106225728A
公开(公告)日：2016-12-14
申请号：CN201610638878.7
申请日：2016-08-07
Applicant: 哈尔滨工业大学
CPC classification number: G01B11/26 , G01C15/002 , G02B27/30
Abstract: 本发明属于精密测量技术领域和光学工程领域，具体涉及阵列调零高精度大工作距自准直装置与方法；该装置由光源、准直镜、反射镜、以及反馈成像系统组成；该方法通过调整反射镜，使反射光束回到反馈成像系统像面中心，再利用反射镜上的角度偏转测量装置来得到被测物表面的角度变化；由于本发明在传统自准直角度测量系统上增加了反射镜，因此能够避免被测物反射光偏离测量系统而导致无法测量的问题，进而具有在相同工作距离下增加自准直工作范围，或在相同自准直工作范围下增加工作距离的技术优势；此外，准直镜、反馈成像系统、反射镜等的具体设计，使本发明还具有结构简单、制作成本低；尤其低采样频率下具有高测量精度；以及快速测量的技术优势。
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公开(公告)号：CN106225727B
公开(公告)日：2019-03-01
申请号：CN201610638877.2
申请日：2016-08-07
Applicant: 哈尔滨工业大学
Abstract: 本发明属于精密测量技术领域和光学工程领域，具体涉及阵列调零激光大工作距自准直装置与方法；该装置由光源、准直镜、反射镜、以及反馈成像系统组成；该方法通过调整反射镜，使反射光束回到反馈成像系统像面中心，再利用反射镜上的角度偏转测量装置来得到被测物表面的角度变化；由于本发明在传统自准直角度测量系统上增加了反射镜，因此能够避免被测物反射光偏离测量系统而导致无法测量的问题，进而具有在相同工作距离下增加自准直工作范围，或在相同自准直工作范围下增加工作距离的技术优势；此外，准直镜、反馈成像系统、反射镜等的具体设计，使本发明还具有结构简单、制作成本低；在不稳定测量环境下同样能够测量；以及快速测量的技术优势。
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