公开(公告)号：CN116754519A

公开(公告)日：2023-09-15

申请号：CN202310982576.1

申请日：2023-08-04

Applicant: 哈尔滨工业大学

Inventor： 颜志强 ,  汪洪源 ,  刘祥 ,  宁乾皓 ,  卢寅玺 ,  迮流川江

IPC: G01N21/47 ,  G01N21/55 ,  G01N21/21 ,  G01N21/01

Abstract: 偏振BRDF特性测量装置及方法，属于光学测量技术领域，本发明为解决现有BRDF或偏振BRDF测量速度慢、测量效率低问题。本发明方案：第二个焦点处的激光光源发出激光垂直透过圆偏振光产生系统和起偏系统，圆偏振光产生系统将激光光源发出的激光转化为圆偏振光，起偏系统对圆偏振光的偏振状态进行定量改变形成测量用入射光，入射光通过半反半透平面镜的透射光经由椭球反射镜第一次反射照射至第一个焦点处待测样片表面，待测样片表面反射光波经椭球反射镜内表面再次反射，反射光波向第二个焦点方向传输并经半反半透平面镜反射，反射光波经过检偏系统汇聚至第三个焦点处测量系统，检偏系统与起偏系统同步调节偏振度，测量系统对待测样片的偏振BRDF特性进行测量。

公开(公告)号：CN116879235A

公开(公告)日：2023-10-13

申请号：CN202310977843.6

申请日：2023-08-04

Applicant: 哈尔滨工业大学

Inventor： 颜志强 ,  汪洪源 ,  刘祥 ,  宁乾皓 ,  卢寅玺 ,  迮流川江

IPC: G01N21/47 ,  G01N21/55 ,  G01N21/21 ,  G01N21/01

Abstract: 偏振BRDF特性测量装置及方法，属于光学测量技术领域，本发明为解决现有BRDF或偏振BRDF测量速度慢、测量效率低问题。本发明包括椭球反射镜、激光光源、圆偏振光产生系统、起偏系统、检偏系统和测量系统，激光光源发出的激光垂直透过圆偏振光产生系统和起偏系统，圆偏振光产生系统将激光光源发出的激光转化为圆偏振光输出，起偏系统对圆偏振光的偏振状态进行定量改变形成测量用入射光，所述入射光透过弧形狭缝入射至第一个焦点F1处的待测样片表面，入射光经待测样片表面反射、反射光波经椭球反射镜内表面再次反射，并经由检偏系统汇聚至第二个焦点F2处的测量系统中，检偏系统与起偏系统同步调节偏振度，测量系统对待测样片的偏振BRDF特性进行测量。