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公开(公告)号：CN108845247B
公开(公告)日：2021-02-02
申请号：CN201810699568.5
申请日：2018-06-29
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G01R31/316
Abstract: 一种模拟电路模块故障诊断方法，本发明涉及模拟电路模块故障诊断方法。本发明为了解决实际模拟电路模块故障诊断过程中缺少故障样本导致电路模块故障诊断准确率低的问题。本发明包括：一：将模拟电路进行功能模块划分；二：通过仿真实验，对电路输入脉冲信号，获得划分后的各模块正常状态的各节点检测率，以及其中任一模块处于故障状态下的各节点检测率；三：对实际的电路各模块进行故障检测；四：根据检测率对各模块的检测结果配置可信度，可信度作为证据m1；五：将脉冲信号更换为扫频信号，重复执行步骤二至四得到证据m2，将m1和m2通过D‑S证据理论进行融合后，完成故障模块的定位。本发明用于模拟电路模块故障诊断领域。
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公开(公告)号：CN107478981B
公开(公告)日：2019-12-10
申请号：CN201710725698.7
申请日：2017-08-22
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G01R31/316 , G06F17/50
Abstract: 一种基于贪婪算法的测试激励集合优选方法，本发明涉及测试激励集合优选方法。本发明为了解决现有技术在元器件的参数偏差程度对电路的影响较小时，故障检测率和诊断率较低，以及不能够覆盖整个电路的元器件的问题。本发明包括：步骤一：建立m个待选测试激励与n个电路中的元器件构成的初始矩阵；步骤二：根据步骤一得到的初始矩阵并利用贪婪算法，依次从m个待选测试激励中优选出x个测试激励，T1，T2，T3…Tx，构成了测试激励集合F，F＝(T1，T2，T3…Tx)，得到测试激励集合F对应的最小代价和为Smin；步骤三：采用内部比较策略和随机剔除策略对步骤二的测试测试激励集合F进行优化。本发明用于模拟电路故障诊断领域。
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公开(公告)号：CN107133476B
公开(公告)日：2019-12-10
申请号：CN201710335811.0
申请日：2017-05-12
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G06F17/50
Abstract: 一种基于响应混叠性度量的测试激励与测点的协同优化方法，本发明涉及基于响应混叠性度量的测试激励与测点的协同优化方法。本发明为了解决现有模拟电路中，由于器件容差的存在使得器件故障状态和正常状态界限模糊，导致早期故障检测较低的问题。本发明包括：一：在全频带范围获取电路N个测点M次正常工作和M次故障元件H故障状态下的特征信息，即得到M个正常样本和M个故障样本；二：息得到在全频带下M个正常样本和M个故障样本对应的正态分布曲线，以及正态分布的均值和标准差；三：计算全频带的正常样本与故障样本之间的响应混叠性；四：选择使响应混叠性度量函数达到最小值的测试激励和测点。本发明应用于电路故障检测领域。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN107478981A
公开(公告)日：2017-12-15
申请号：CN201710725698.7
申请日：2017-08-22
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G01R31/316 , G06F17/50
Abstract: 一种基于贪婪算法的测试激励集合优选方法，本发明涉及测试激励集合优选方法。本发明为了解决现有技术在元器件的参数偏差程度对电路的影响较小时，故障检测率和诊断率较低，以及不能够覆盖整个电路的元器件的问题。本发明包括：步骤一：建立m个待选测试激励与n个电路中的元器件构成的初始矩阵；步骤二：根据步骤一得到的初始矩阵并利用贪婪算法，依次从m个待选测试激励中优选出x个测试激励，T1，T2，T3…Tx，构成了测试激励集合F，F＝(T1，T2，T3…Tx)，得到测试激励集合F对应的最小代价和为Smin；步骤三：采用内部比较策略和随机剔除策略对步骤二的测试测试激励集合F进行优化。本发明用于模拟电路故障诊断领域。
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公开(公告)号：CN107085179B
公开(公告)日：2019-07-02
申请号：CN201710335823.3
申请日：2017-05-12
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G01R31/316
Abstract: 一种基于紧密度评价的模拟电路故障检测中测试激励生成方法，本发明涉及基于紧密度评价的模拟电路故障检测中测试激励生成方法。本发明为了解决现有技术对故障特征本身比较微弱的故障状态的故障检测率会较低的问题。本发明组成包括：步骤一：获取电路在N次正常工作状态和N次任意元件H处于故障状态下，在全频带范围工作的特征信息；步骤二：根据特征信息计算待测电路在全频带下N次任意元件H处于故障状态时特征值超出正常工作范围的量值大小与次数；步骤三：得到紧密度函数曲线；步骤四：选择紧密度函数曲线中紧密度函数值取最大时对应的测试激励作为检测元件H的测试激励。本发明用于模拟电路故障检测领域。
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公开(公告)号：CN108845247A
公开(公告)日：2018-11-20
申请号：CN201810699568.5
申请日：2018-06-29
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G01R31/316
Abstract: 一种模拟电路模块故障诊断方法，本发明涉及模拟电路模块故障诊断方法。本发明为了解决实际模拟电路模块故障诊断过程中缺少故障样本导致电路模块故障诊断准确率低的问题。本发明包括：一：将模拟电路进行功能模块划分；二：通过仿真实验，对电路输入脉冲信号，获得划分后的各模块正常状态的各节点检测率，以及其中任一模块处于故障状态下的各节点检测率；三：对实际的电路各模块进行故障检测；四：根据检测率对各模块的检测结果配置可信度，可信度作为证据m1；五：将脉冲信号更换为扫频信号，重复执行步骤二至四得到证据m2，将m1和m2通过D-S证据理论进行融合后，完成故障模块的定位。本发明用于模拟电路模块故障诊断领域。
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公开(公告)号：CN107133476A
公开(公告)日：2017-09-05
申请号：CN201710335811.0
申请日：2017-05-12
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G06F19/00
Abstract: 一种基于响应混叠性度量的测试激励与测点的协同优化方法，本发明涉及基于响应混叠性度量的测试激励与测点的协同优化方法。本发明为了解决现有模拟电路中，由于器件容差的存在使得器件故障状态和正常状态界限模糊，导致早期故障检测较低的问题。本发明包括：一：在全频带范围获取电路N个测点M次正常工作和M次故障元件H故障状态下的特征信息，即得到M个正常样本和M个故障样本；二：息得到在全频带下M个正常样本和M个故障样本对应的正态分布曲线，以及正态分布的均值和标准差；三：计算全频带的正常样本与故障样本之间的响应混叠性；四：选择使响应混叠性度量函数达到最小值的测试激励和测点。本发明应用于电路故障检测领域。
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公开(公告)号：CN107085179A
公开(公告)日：2017-08-22
申请号：CN201710335823.3
申请日：2017-05-12
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G01R31/316
CPC classification number: G01R31/316
Abstract: 一种基于紧密度评价的模拟电路故障检测中测试激励生成方法，本发明涉及基于紧密度评价的模拟电路故障检测中测试激励生成方法。本发明为了解决现有技术对故障特征本身比较微弱的故障状态的故障检测率会较低的问题。本发明组成包括：步骤一：获取电路在N次正常工作状态和N次任意元件H处于故障状态下，在全频带范围工作的特征信息；步骤二：根据特征信息计算待测电路在全频带下N次任意元件H处于故障状态时特征值超出正常工作范围的量值大小与次数；步骤三：得到紧密度函数曲线；步骤四：选择紧密度函数曲线中紧密度函数值取最大时对应的测试激励作为检测元件H的测试激励。本发明用于模拟电路故障检测领域。
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