基于退化特征参数正常包络模型的模拟电路早期故障检测方法

    公开(公告)号:CN110135088B

    公开(公告)日:2022-08-23

    申请号:CN201910420731.4

    申请日:2019-05-20

    Abstract: 基于退化特征参数正常包络模型的模拟电路早期故障检测方法,属于电子系统可靠性领域。电路早期故障状态和正常工作状态有较大混叠难以区分,导致检测结果不理想。基于退化特征参数正常包络模型的模拟电路早期故障检测方法,确定电路的输出信号及分析电路中可能存在的退化源作为电路的关键元器件;建立关键元器件的退化模型,通过仿真实验获取退化数据;对电路的输出信号进行特征提取,提取出能够反映输出信号退化的特征参数;建立基于退化的特征参数的正常包络模型并进行检测,完成电路的早期故障检测。

    DC-DC转换器早期多源故障诊断的特征提取方法

    公开(公告)号:CN112115663B

    公开(公告)日:2022-09-27

    申请号:CN202011012475.4

    申请日:2020-09-23

    Abstract: 一种DC‑DC转换器早期多源故障诊断的特征提取方法,属于DC‑DC转换器故障诊断技术领域。本发明为解决现有DC‑DC转换器的故障检测主要针对单个元件引起的故障,对具有隐蔽性特征的早期多源故障检测效果差的问题。包括:获得正常样本和待识别早期多源故障样本;对正常样本和待识别早期多源故障样本分别获得所有子频带的m×n个局部候选能量;在待识别早期多源故障样本对应的m×n个局部候选能量中优选出v个选定局部能量,构成最优局部能量集;由v个选定局部能量与已知的w个早期多源故障构建初始矩阵;对初始矩阵采用贪婪算法从v个选定局部能量中再优选出u个局部能量作为u个故障特征,供DC‑DC转换器早期多源故障诊断。本发明提高了早期多源故障识别能力。

    DC-DC转换器早期多源故障诊断的特征提取方法

    公开(公告)号:CN112115663A

    公开(公告)日:2020-12-22

    申请号:CN202011012475.4

    申请日:2020-09-23

    Abstract: 一种DC‑DC转换器早期多源故障诊断的特征提取方法,属于DC‑DC转换器故障诊断技术领域。本发明为解决现有DC‑DC转换器的故障检测主要针对单个元件引起的故障,对具有隐蔽性特征的早期多源故障检测效果差的问题。包括:获得正常样本和待识别早期多源故障样本;对正常样本和待识别早期多源故障样本分别获得所有子频带的m×n个局部候选能量;在待识别早期多源故障样本对应的m×n个局部候选能量中优选出v个选定局部能量,构成最优局部能量集;由v个选定局部能量与已知的w个早期多源故障构建初始矩阵;对初始矩阵采用贪婪算法从v个选定局部能量中再优选出u个局部能量作为u个故障特征,供DC‑DC转换器早期多源故障诊断。本发明提高了早期多源故障识别能力。

    一种模拟电路模块故障诊断方法

    公开(公告)号:CN108845247A

    公开(公告)日:2018-11-20

    申请号:CN201810699568.5

    申请日:2018-06-29

    Abstract: 一种模拟电路模块故障诊断方法,本发明涉及模拟电路模块故障诊断方法。本发明为了解决实际模拟电路模块故障诊断过程中缺少故障样本导致电路模块故障诊断准确率低的问题。本发明包括:一:将模拟电路进行功能模块划分;二:通过仿真实验,对电路输入脉冲信号,获得划分后的各模块正常状态的各节点检测率,以及其中任一模块处于故障状态下的各节点检测率;三:对实际的电路各模块进行故障检测;四:根据检测率对各模块的检测结果配置可信度,可信度作为证据m1;五:将脉冲信号更换为扫频信号,重复执行步骤二至四得到证据m2,将m1和m2通过D-S证据理论进行融合后,完成故障模块的定位。本发明用于模拟电路模块故障诊断领域。

    一种基于响应混叠性度量的测试激励与测点的协同优化方法

    公开(公告)号:CN107133476A

    公开(公告)日:2017-09-05

    申请号:CN201710335811.0

    申请日:2017-05-12

    Abstract: 一种基于响应混叠性度量的测试激励与测点的协同优化方法,本发明涉及基于响应混叠性度量的测试激励与测点的协同优化方法。本发明为了解决现有模拟电路中,由于器件容差的存在使得器件故障状态和正常状态界限模糊,导致早期故障检测较低的问题。本发明包括:一:在全频带范围获取电路N个测点M次正常工作和M次故障元件H故障状态下的特征信息,即得到M个正常样本和M个故障样本;二:息得到在全频带下M个正常样本和M个故障样本对应的正态分布曲线,以及正态分布的均值和标准差;三:计算全频带的正常样本与故障样本之间的响应混叠性;四:选择使响应混叠性度量函数达到最小值的测试激励和测点。本发明应用于电路故障检测领域。

    一种基于紧密度评价的模拟电路故障检测中测试激励生成方法

    公开(公告)号:CN107085179A

    公开(公告)日:2017-08-22

    申请号:CN201710335823.3

    申请日:2017-05-12

    CPC classification number: G01R31/316

    Abstract: 一种基于紧密度评价的模拟电路故障检测中测试激励生成方法,本发明涉及基于紧密度评价的模拟电路故障检测中测试激励生成方法。本发明为了解决现有技术对故障特征本身比较微弱的故障状态的故障检测率会较低的问题。本发明组成包括:步骤一:获取电路在N次正常工作状态和N次任意元件H处于故障状态下,在全频带范围工作的特征信息;步骤二:根据特征信息计算待测电路在全频带下N次任意元件H处于故障状态时特征值超出正常工作范围的量值大小与次数;步骤三:得到紧密度函数曲线;步骤四:选择紧密度函数曲线中紧密度函数值取最大时对应的测试激励作为检测元件H的测试激励。本发明用于模拟电路故障检测领域。

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